| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第10-20页 |
| 1.1 引言 | 第10页 |
| 1.2 脑电电极的种类及国内外研究现状 | 第10-15页 |
| 1.3 多通道脑电信号伪迹去除研究现状 | 第15-17页 |
| 1.4 本文主要工作 | 第17-19页 |
| 1.5 论文结构安排 | 第19-20页 |
| 第二章 电极性能分析与脑电处理方法 | 第20-30页 |
| 2.1 引言 | 第20页 |
| 2.2 电极性能分析方法及其脑电处理方法 | 第20-22页 |
| 2.2.1 阻抗分析方法 | 第20页 |
| 2.2.2 时域与频域分析方法 | 第20-22页 |
| 2.3 基于FastICA自动去除多通道脑电信号伪迹 | 第22-27页 |
| 2.3.1 独立分量分析 | 第22-23页 |
| 2.3.2 独立分量获取 | 第23-25页 |
| 2.3.3 伪迹自动判别并去除 | 第25-27页 |
| 2.4 脑电信号的低秩稀疏分解方法 | 第27-29页 |
| 2.5 本章小结 | 第29-30页 |
| 第三章 基于柔性针式头发区域干电极的制备与性能分析 | 第30-46页 |
| 3.1 引言 | 第30页 |
| 3.2 柔性针式头发区域干电极的结构及制备过程 | 第30-32页 |
| 3.3 电极性能分析 | 第32-45页 |
| 3.3.1 阻抗分析 | 第32-35页 |
| 3.3.2 睁闭眼实验 | 第35-42页 |
| 3.3.3 SSVEP实验 | 第42-45页 |
| 3.4 本章小结 | 第45-46页 |
| 第四章 基于低秩稀疏分解的多通道脑电信号伪迹自动去除 | 第46-64页 |
| 4.1 引言 | 第46页 |
| 4.2 受伪迹影响的脑电数据集 | 第46-48页 |
| 4.3 基于GoDec分解多通道脑电信号 | 第48-50页 |
| 4.4 脑电信号分析 | 第50-56页 |
| 4.5 实验结果 | 第56-62页 |
| 4.5.1 平均SNR和MSE | 第56-58页 |
| 4.5.2 算法稳定性 | 第58-61页 |
| 4.5.3 去伪迹耗时 | 第61-62页 |
| 4.6 本章小结 | 第62-64页 |
| 第五章 基于柔性干电极与伪迹自动去除新方法的脑电采集与分析实验 | 第64-69页 |
| 5.1 引言 | 第64页 |
| 5.2 脑电采集过程及实验结果 | 第64-68页 |
| 5.2.1 采集过程 | 第64-65页 |
| 5.2.2 实验结果 | 第65-68页 |
| 5.3 本章小结 | 第68-69页 |
| 总结与展望 | 第69-71页 |
| 总结 | 第69-70页 |
| 展望 | 第70-71页 |
| 参考文献 | 第71-78页 |
| 攻读硕士学位期间取得的研究成果 | 第78-79页 |
| 致谢 | 第79-80页 |
| 附件 | 第80页 |
