用于TDI型CMOS图像传感器的12位列级ADC设计
| 摘要 | 第4-5页 |
| ABSTRACT | 第5页 |
| 第一章 绪论 | 第8-12页 |
| 1.1 CMOS图像传感器简介 | 第8-9页 |
| 1.2 TDI型CMOS图像传感器国内外发展现状 | 第9-10页 |
| 1.3 选题的目的和意义 | 第10-11页 |
| 1.4 本论文的内容安排 | 第11-12页 |
| 第二章 用于CMOS图像传感器的ADC的理论基础 | 第12-18页 |
| 2.1 CMOS图像传感器ADC的集成方法 | 第12-14页 |
| 2.1.1 芯片级ADC | 第12-13页 |
| 2.1.2 列级ADC | 第13页 |
| 2.1.3 像素级ADC | 第13-14页 |
| 2.2 CMOS图像传感器常用的列级ADC | 第14-17页 |
| 2.2.1 逐次逼近ADC | 第14-15页 |
| 2.2.2 迭代运算ADC | 第15-16页 |
| 2.2.3 单斜ADC | 第16-17页 |
| 2.3 本章小结 | 第17-18页 |
| 第三章 采用多参考电压的两步单斜ADC | 第18-29页 |
| 3.1 两步单斜ADC的基本原理 | 第18-21页 |
| 3.1.1 多斜坡ADC | 第18-20页 |
| 3.1.2 两步单斜ADC | 第20-21页 |
| 3.2 采用多参考电压的两步单斜ADC | 第21-28页 |
| 3.2.1 基本结构和原理 | 第21-24页 |
| 3.2.2 误差校正 | 第24-28页 |
| 3.3 本章小结 | 第28-29页 |
| 第四章 用于TDI-CIS的列级ADC的电路设计 | 第29-56页 |
| 4.1 TDI-CIS芯片的整体架构 | 第29-30页 |
| 4.2 斜坡信号产生器 | 第30-38页 |
| 4.2.1 DAC结构的选择 | 第31-33页 |
| 4.2.2 非理想因素分析 | 第33-36页 |
| 4.2.3 单位电容值的确定 | 第36-38页 |
| 4.3 多参考电压产生器 | 第38-39页 |
| 4.4 列级电路 | 第39-47页 |
| 4.4.1 列级电路整体结构 | 第39-40页 |
| 4.4.2 比较器 | 第40-46页 |
| 4.4.3 寄存器设计 | 第46页 |
| 4.4.4 多路选通器及3-8译码器 | 第46-47页 |
| 4.5 数字读出电路及校正模块 | 第47-49页 |
| 4.6 长阵列驱动 | 第49-55页 |
| 4.6.1 斜坡信号及参考电压的驱动 | 第50-53页 |
| 4.6.2 时钟及控制信号的驱动 | 第53-54页 |
| 4.6.3 偏置电压驱动 | 第54-55页 |
| 4.7 本章小结 | 第55-56页 |
| 第五章 版图设计及芯片测试结果 | 第56-66页 |
| 5.1 版图设计 | 第56-57页 |
| 5.1.1 两步单斜ADC的版图设计 | 第56-57页 |
| 5.1.2 图像传感器整体的版图 | 第57页 |
| 5.2 芯片测试结果 | 第57-65页 |
| 5.2.1 列级ADC的测试 | 第58-61页 |
| 5.2.2 芯片整体测试 | 第61-65页 |
| 5.2.3 芯片总体参数 | 第65页 |
| 5.3 本章小结 | 第65-66页 |
| 第六章 总结与展望 | 第66-68页 |
| 6.1 论文总结 | 第66-67页 |
| 6.2 工作展望 | 第67-68页 |
| 参考文献 | 第68-71页 |
| 发表论文和参加科研情况说明 | 第71-72页 |
| 致谢 | 第72-73页 |
