| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第10-14页 |
| 1.1 FPGA的起源和可编程逻辑器件的发展 | 第10-12页 |
| 1.2 FPGA测试的必要性 | 第12页 |
| 1.3 本论文的主要研究内容 | 第12-13页 |
| 1.4 本论文的结构安排 | 第13-14页 |
| 第二章 VIRTEX-II系列FPGA的特性和结构 | 第14-43页 |
| 2.1 Virtex-II系列FPGA芯片特性和总体架构 | 第14-18页 |
| 2.2 Virtex-II系列FPGA内部结构 | 第18-42页 |
| 2.2.1 可编程输入输出模块（IOB） | 第18-21页 |
| 2.2.2 可配置逻辑块（CLB） | 第21-34页 |
| 2.2.3 18Kbit块SelectRAM存储器 | 第34-35页 |
| 2.2.4 18-Bit*18-Bit乘法器 | 第35-36页 |
| 2.2.5 互联资源 | 第36-39页 |
| 2.2.6 其他资源 | 第39-42页 |
| 2.2.6.1 DCM和全局时钟多路复用器 | 第39-42页 |
| 2.2.6.2 数控阻抗匹配技术 | 第42页 |
| 2.3 本章小结 | 第42-43页 |
| 第三章 可配置逻辑块的测试方法 | 第43-53页 |
| 3.1 基于位流回读的FPGA测试平台 | 第43-46页 |
| 3.1.1 现有的FPGA功能测试平台 | 第43-44页 |
| 3.1.1.1 基于ATE设备的FPGA功能测试平台 | 第43页 |
| 3.1.1.2 基于边界扫描技术的FPGA功能测试平台 | 第43-44页 |
| 3.1.2 基于位流回读的FPGA功能测试平台 | 第44-46页 |
| 3.1.2.1 FPGA位流回读的概念及意义 | 第44-45页 |
| 3.1.2.2 基于位流回读的FPGA功能测试平台的构成 | 第45-46页 |
| 3.2 可配置逻辑块测试方法 | 第46-48页 |
| 3.3 基于位流回读的可配置逻辑块的测试方法 | 第48-52页 |
| 3.3.1 基于位流回读的CLB的触发器的测试算法 | 第48-50页 |
| 3.3.2 基于位流回读的CLB的LUT的测试算法 | 第50-52页 |
| 3.4 本章小结 | 第52-53页 |
| 第四章 互联资源的测试方法 | 第53-66页 |
| 4.1 互联资源的故障模型和测试方法 | 第53-57页 |
| 4.1.1 互联资源的故障模型 | 第53-55页 |
| 4.1.2 互联资源的测试方法 | 第55-57页 |
| 4.2 Virtex-II互联资源分类 | 第57-63页 |
| 4.2.1 互联线段的分类 | 第58-63页 |
| 4.2.1.1 双长线 | 第58-61页 |
| 4.2.1.2 六长线 | 第61页 |
| 4.2.1.3 长线 | 第61-62页 |
| 4.2.1.4 全局线 | 第62页 |
| 4.2.1.5 其他互连线 | 第62-63页 |
| 4.2.2 可编程连接点 | 第63页 |
| 4.3 基于位流回读的Virtex-II互联资源的测试方法 | 第63-65页 |
| 4.4 本章小结 | 第65-66页 |
| 第五章 Virtex-II测试实验 | 第66-75页 |
| 5.1 CLB的配置图形及测试 | 第66-68页 |
| 5.2 互联资源配置图形及测试 | 第68-73页 |
| 5.3 本章小结 | 第73-75页 |
| 第六章 全文总结与展望 | 第75-77页 |
| 6.1 全文总结 | 第75页 |
| 6.2 后续工作展望 | 第75-77页 |
| 致谢 | 第77-78页 |
| 参考文献 | 第78-80页 |
| 攻读硕士学位期间取得的成果 | 第80-81页 |
