晶硅太阳电池组件缺陷的红外图像诊断研究
| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6页 |
| 第1章 绪论 | 第9-15页 |
| 1.1 课题的背景及研究意义 | 第9-13页 |
| 1.1.1 光伏产业的背景和发展状况 | 第9-11页 |
| 1.1.2 选题来源及课题研究的必要性 | 第11-13页 |
| 1.2 国内外研究现状和发展趋势 | 第13页 |
| 1.3 论文主要内容 | 第13-15页 |
| 第2章 太阳电池组件缺陷的红外成像物理机理 | 第15-21页 |
| 2.1 电致发光原理 | 第15-17页 |
| 2.2 少数载流子扩散长度与 EL 的关系 | 第17页 |
| 2.3 外加正向偏压与 EL 的关系 | 第17-18页 |
| 2.4 温度对 EL 的影响 | 第18-20页 |
| 2.5 小结 | 第20-21页 |
| 第3章 电性能参数对太阳电池图像亮暗的影响 | 第21-27页 |
| 3.1 红外图像检测设备 | 第21-22页 |
| 3.2 基准数据测试 | 第22-23页 |
| 3.3 影响电池亮暗的因素 | 第23-26页 |
| 3.3.1 转换效率对太阳电池的影响 | 第24页 |
| 3.3.2 短路电流对太阳电池的影响 | 第24-25页 |
| 3.3.3 位置对太阳电池的影响 | 第25-26页 |
| 3.4 小结 | 第26-27页 |
| 第4章 太阳电池组件各种缺陷成因及对组件的影响 | 第27-36页 |
| 4.1 原材料导致的缺陷 | 第27-29页 |
| 4.1.1 实心黑斑 | 第28页 |
| 4.1.2 滑移线 | 第28-29页 |
| 4.2 太阳电池片生产工艺导致的缺陷 | 第29-31页 |
| 4.2.1 减反射膜镀反 | 第29-30页 |
| 4.2.2 周边刻蚀不彻底 | 第30页 |
| 4.2.3 栅线划伤 | 第30-31页 |
| 4.3 太阳电池组件封装工艺不当导致的缺陷 | 第31-34页 |
| 4.3.1 隐裂和碎片 | 第31-32页 |
| 4.3.2 断栅 | 第32页 |
| 4.3.3 虚焊 | 第32-33页 |
| 4.3.4 发电效率异常 | 第33-34页 |
| 4.4 小结 | 第34-36页 |
| 第5章 太阳电池组件缺陷的红外图像处理 | 第36-50页 |
| 5.1 图像预处理 | 第37-41页 |
| 5.1.1 图像转化 | 第37页 |
| 5.1.2 建立直方图 | 第37-38页 |
| 5.1.3 图像增强 | 第38-40页 |
| 5.1.4 滤波降噪 | 第40-41页 |
| 5.2 图像分割 | 第41-46页 |
| 5.2.1 边缘检测 | 第41-43页 |
| 5.2.2 数学形态学滤波 | 第43-45页 |
| 5.2.3 边缘提取 | 第45-46页 |
| 5.3 图像识别 | 第46-49页 |
| 5.3.1 特征提取 | 第46-48页 |
| 5.3.2 特征选择 | 第48-49页 |
| 5.4 小结 | 第49-50页 |
| 第6章 总结与展望 | 第50-52页 |
| 6.1 总结 | 第50页 |
| 6.2 展望及有待进一步解决的问题 | 第50-52页 |
| 参考文献 | 第52-55页 |
| 致谢 | 第55-56页 |
| 攻读硕士学位期间发表论文和获奖情况 | 第56页 |
