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电容式RF-MEMS开关设计与失效研究

摘要第5-6页
Abstract第6页
第1章 绪论第9-18页
    1.1 课题背景第9-10页
    1.2 电容式 RF-MEMS 开关种类第10-13页
    1.3 电容式 RF-MEMS 开关国内外研究现状第13-17页
    1.4 本文主要研究内容第17-18页
第2章 电容式 RF MEMS 开关原理与工艺第18-23页
    2.1 电容式 RF-MEMS 开关原理第18-19页
    2.2 电容式 RF-MEMS 开关主要性能参数第19-20页
    2.3 电容式 RF-MEMS 开关制备工艺流程第20-22页
    2.4 本章小结第22-23页
第3章 固定梁 RF MEMS 开关设计第23-36页
    3.1 固定梁 RF-MEMS 开关建模第23页
    3.2 主要工作原理第23-25页
    3.3 结构性能参数仿真第25-31页
        3.3.1 开关结构参数对驱动电压的影响第25-29页
        3.3.2 梁材料及残余应力对驱动电压的影响第29-30页
        3.3.3 极板间距离与介质层厚度对电容比的影响第30-31页
    3.4 开启时间的研究第31-35页
        3.4.1 可动薄膜动力学方程的建立第31-33页
        3.4.2 开启时间仿真第33-35页
    3.5 本章小结第35-36页
第4章 电容式 RF-MEMS 开关失效模拟第36-50页
    4.1 冲击速度模型建立第36-38页
    4.2 介质薄膜内电场模型建立第38-39页
    4.3 模型仿真第39-43页
        4.3.1 粘滞系数及偏置电压对冲击速度的影响第39-41页
        4.3.2 偏置电压对介质薄膜内建电场的影响第41-43页
    4.4 电介质充电对开关寿命的影响第43-49页
        4.4.1 主要原理及寿命预测模型建立第44-46页
        4.4.2 寿命预测模型仿真第46-49页
    4.5 本章小结第49-50页
结论第50-51页
参考文献第51-55页
攻读学位期间发表的学术论文第55-56页
致谢第56页

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