摘要 | 第5-7页 |
ABSTRACT | 第7-9页 |
第一章 绪论 | 第22-32页 |
1.1 研究背景和意义 | 第22-25页 |
1.2 LDO电源管理类芯片的研究现状与发展趋势 | 第25-28页 |
1.3 论文的研究内容与结构安排 | 第28-32页 |
第二章 低压差线性稳压器基本理论 | 第32-50页 |
2.1 引言 | 第32页 |
2.2 LDO的整体介绍 | 第32-37页 |
2.2.1 LDO的基本理论 | 第32-35页 |
2.2.2 LDO的典型电路结构 | 第35-36页 |
2.2.3 LDO的工作原理 | 第36-37页 |
2.3 LDO的核心电路结构分析 | 第37-41页 |
2.3.1 启动电路 | 第37-38页 |
2.3.2 基准电路 | 第38-39页 |
2.3.3 误差放大器 | 第39-40页 |
2.3.4 各类保护电路 | 第40页 |
2.3.5 功率管 | 第40-41页 |
2.4 LDO的一些重要指标 | 第41-48页 |
2.4.1 稳压性能 | 第42-47页 |
2.4.2 功率性能 | 第47页 |
2.4.3 使用条件 | 第47-48页 |
2.5 小结 | 第48-50页 |
第三章 低压差线性稳压器稳定性研究 | 第50-74页 |
3.1 引言 | 第50页 |
3.2 稳定性相关理论研究 | 第50-57页 |
3.2.1 瞬态响应、稳定性和频率补偿三者的关系 | 第50-53页 |
3.2.2 频率补偿理论 | 第53-57页 |
3.3 传统LDO的补偿电路 | 第57-60页 |
3.3.1 等效串联电阻(ESR)补偿电路 | 第57-59页 |
3.3.2 密勒(Miller)补偿电路 | 第59-60页 |
3.4 嵌入式电流缓冲技术的频率补偿方法研究 | 第60-72页 |
3.4.1 电流缓冲技术的原理介绍 | 第60-62页 |
3.4.2 电流缓冲技术的“嵌入式结构”电路设计 | 第62-66页 |
3.4.3 仿真结果及分析 | 第66-68页 |
3.4.4 实测结果及分析 | 第68-72页 |
3.5 本章小结 | 第72-74页 |
第四章 低压差线性稳压器中过流保护方法研究 | 第74-96页 |
4.1 引言 | 第74页 |
4.2 LDO保护电路介绍 | 第74-81页 |
4.2.1 欠压锁存电路 | 第74-77页 |
4.2.2 过温保护电路 | 第77-80页 |
4.2.3 过流保护电路 | 第80-81页 |
4.3 LDO二级限流保护电路研究 | 第81-95页 |
4.3.1 折返限流原理 | 第81-86页 |
4.3.2 二级限流系统的电路设计 | 第86-91页 |
4.3.3 仿真结果及分析 | 第91-93页 |
4.3.4 实测结果及分析 | 第93-95页 |
4.4 本章小结 | 第95-96页 |
第五章 含有高温补偿的高稳定性LDO设计 | 第96-118页 |
5.1 引言 | 第96页 |
5.2 新型带隙-误差放大器设计 | 第96-103页 |
5.2.1 带隙比较器 | 第98-100页 |
5.2.2 误差放大器 | 第100-102页 |
5.2.3 含有高温补偿的带隙-误差放大器 | 第102-103页 |
5.3 自适应阻抗跟随器 | 第103-105页 |
5.4 带温度补偿的低功耗高稳定LDO电路的实现与分析 | 第105-116页 |
5.4.1 电路结构分析 | 第105-106页 |
5.4.2 系统稳定性分析 | 第106-109页 |
5.4.3 实验结果与分析 | 第109-116页 |
5.5 本章小结 | 第116-118页 |
第六章 LDO版图设计与测试验证 | 第118-134页 |
6.1 LDO芯片设计流程 | 第118-119页 |
6.2 确定LDO的性能指标 | 第119-121页 |
6.3 版图设计技术 | 第121-123页 |
6.4 流片 | 第123-125页 |
6.5 电路测试验证 | 第125-132页 |
6.5.1 各项指标测试方法及结果分析 | 第125-127页 |
6.5.2 电路实测波形图及结果分析 | 第127-132页 |
6.6 本章小节 | 第132-134页 |
第七章 总结与展望 | 第134-138页 |
7.1 总结 | 第134-135页 |
7.2 展望 | 第135-138页 |
参考文献 | 第138-148页 |
致谢 | 第148-150页 |
作者简介 | 第150-153页 |