摘要 | 第3-4页 |
Abstract | 第4-5页 |
1 引言 | 第8-9页 |
2 文献综述 | 第9-18页 |
2.1 陶瓷膜介绍 | 第9-13页 |
2.1.1 陶瓷膜简介 | 第9页 |
2.1.2 陶瓷膜分类 | 第9页 |
2.1.3 陶瓷膜结构 | 第9-10页 |
2.1.4 陶瓷膜制备工艺 | 第10-13页 |
2.1.4.1 支撑体制备工艺 | 第10-12页 |
2.1.4.2 微滤层制备工艺 | 第12-13页 |
2.2 浸渍法涂膜工艺 | 第13-15页 |
2.3 外压式陶瓷膜简介 | 第15-16页 |
2.3.1 外压式陶瓷膜的工作原理 | 第15-16页 |
2.3.2 外压式与内压式微超滤膜的比较 | 第16页 |
2.4 外压式陶瓷微超滤膜的研究现状和需要解决的关键问题 | 第16-17页 |
2.5 本课题的研究目标及内容 | 第17-18页 |
2.5.1 研究目标 | 第17页 |
2.5.2 研究内容设计 | 第17-18页 |
3 实验部分 | 第18-27页 |
3.1 实验原料 | 第18-19页 |
3.2 实验仪器及设备 | 第19-20页 |
3.3 实验工艺流程 | 第20-21页 |
3.3.1 堇青石质板式蜂窝陶瓷膜支撑体制备工艺流程图 | 第20-21页 |
3.3.2 外压式堇青石微滤膜制备工艺流程图 | 第21页 |
3.4 实验过程 | 第21-23页 |
3.4.1 堇青石质板式蜂窝陶瓷膜支撑体的制备工艺 | 第21-22页 |
3.4.2 外压式堇青石微滤膜悬浮液的制备工艺 | 第22页 |
3.4.3 外压式堇青石微滤膜的制备工艺 | 第22-23页 |
3.5 性能测试及表征 | 第23-27页 |
3.5.1 粉体颗粒粒度分析 | 第23页 |
3.5.2 开孔隙率测试 | 第23页 |
3.5.3 孔径大小及分布测试 | 第23页 |
3.5.4 抗折强度测试 | 第23页 |
3.5.5 显微结构测试 | 第23页 |
3.5.6 XRD晶相分析测试 | 第23页 |
3.5.7 改进式沉降高度法表征悬浮液稳定性 | 第23-25页 |
3.5.8 外压式微滤膜纯水通量测试 | 第25-27页 |
4 实验结果分析与讨论 | 第27-65页 |
4.1 外压式堇青石质薄壁支撑体的制备 | 第27-36页 |
4.1.1 支撑体的挤出成型控制 | 第27-28页 |
4.1.2 支撑体的干燥控制 | 第28-29页 |
4.1.3 支撑体的烧结控制 | 第29-32页 |
4.1.3.1 烧结温度 | 第29-31页 |
4.1.3.2 保温时间 | 第31-32页 |
4.1.4 支撑体造孔剂加入量的控制 | 第32-34页 |
4.1.5 外压式平板蜂窝状薄壁支撑体 | 第34-36页 |
4.2 外压式薄壁陶瓷膜中间层的制备 | 第36-52页 |
4.2.1 中间层稳定堇青石悬浮液的制备 | 第36-42页 |
4.2.1.1 中间层悬浮液分散剂的选择和用量的确定 | 第36-38页 |
4.2.1.2 中间层不同固含量悬浮液稳定剂用量的确定 | 第38-42页 |
4.2.2 外压式薄壁陶瓷膜中间层膜层的制备 | 第42-52页 |
4.2.2.1 悬浮液固含量、粘度对中间层厚度和孔径分布的影响 | 第42-47页 |
4.2.2.2 涂膜时间对中间层膜层孔径分布的影响 | 第47-48页 |
4.2.2.3 外压式薄壁陶瓷膜的干燥工艺对膜层的影响 | 第48-50页 |
4.2.2.4 煅烧温度对陶瓷膜中间层膜层孔径分布的影响 | 第50-51页 |
4.2.2.5 保温时间对陶瓷膜中间层孔径分布的影响 | 第51-52页 |
4.3 外压式薄壁陶瓷膜顶层的制备 | 第52-63页 |
4.3.1 顶层稳定堇青石悬浮液的制备 | 第52-57页 |
4.3.1.1 顶层悬浮液分散剂用量的确定 | 第52-53页 |
4.3.1.2 顶层不同固含量悬浮液稳定剂用量的确定 | 第53-57页 |
4.3.2 外压式薄壁陶瓷膜顶层膜层的制备 | 第57-63页 |
4.3.2.1 悬浮液固含量、粘度对陶瓷膜顶层厚度和孔径分布的影响 | 第57-60页 |
4.3.2.2 涂膜时间对陶瓷膜顶层孔径分布的影响 | 第60-61页 |
4.3.2.3 煅烧温度对陶瓷膜顶层孔径分布的影响 | 第61-63页 |
4.3.2.4 保温时间对陶瓷膜顶层孔径分布的影响 | 第63页 |
4.4 外压式平板蜂窝状薄壁陶瓷微滤膜的表征 | 第63-65页 |
5 主要结论 | 第65-66页 |
致谢 | 第66-67页 |
参考文献 | 第67-70页 |