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双层介质中斜裂纹的超声合成孔径成像算法研究

摘要第6-7页
Abstract第7页
第1章 绪论第11-18页
    1.1 研究背景及意义第11页
    1.2 合成孔径聚焦成像技术研究现状第11-14页
        1.2.1 国外研究现状第11-13页
        1.2.2 国内研究现状第13-14页
    1.3 多层介质超声探伤技术国内外研究现状第14-16页
    1.4 本文研究内容及文章结构第16-18页
        1.4.1 现阶段研究的不足及本文研究内容第16页
        1.4.2 论文研究内容及结构安排第16-18页
第2章 超声检测成像技术相关理论第18-31页
    2.1 合成孔径聚焦成像技术概述第18-25页
        2.1.1 时域合成孔径聚焦成像技术第19-21页
        2.1.2 频域合成孔径聚焦成像技术第21-22页
        2.1.3 合成孔径技术的拓展第22-23页
        2.1.4 多阵元合成孔径聚焦成像实验第23-25页
    2.2 双层介质超声成像基本理论第25-29页
        2.2.1 第一临界角和第二临界角第26-29页
    2.3 双层介质传统超声成像算法原理第29-30页
    2.4 本章小结第30-31页
第3章 单层介质时域合成孔径成像算法改进第31-48页
    3.1 传统时域合成孔径算法的正向解释第31-35页
        3.1.1 合成孔径有效长度计算第31-32页
        3.1.2 时域合成孔径原理的正向解释第32-35页
    3.2 时域合成孔径成像算法的改进第35-37页
    3.3 时域合成孔径正向映射实现算法第37-41页
    3.4 仿真、实验与分析第41-46页
        3.4.1 矩形阵列探头声场仿真第41-44页
        3.4.2 合成孔径聚焦成像改进算法实验验证第44-46页
    3.5 本章小结第46-48页
第4章 双层介质超声成像算法优化第48-65页
    4.1 传统时域合成孔径算法+射线跟踪技术成像原理第48-50页
    4.2 时域合成孔径成像+射线跟踪技术算法的正向解释第50-52页
    4.3 射线移动轨迹曲线的计算第52-55页
    4.4 折射线移动轨迹追踪算法第55-59页
    4.5 实验与分析第59-63页
    4.6 本章小结第63-65页
总结与展望第65-67页
    总结第65-66页
    展望第66-67页
致谢第67-68页
参考文献第68-72页
攻读硕士期间发表文章情况第72-73页
图表索引第73-74页

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