摘要 | 第6-7页 |
Abstract | 第7页 |
第1章 绪论 | 第11-18页 |
1.1 研究背景及意义 | 第11页 |
1.2 合成孔径聚焦成像技术研究现状 | 第11-14页 |
1.2.1 国外研究现状 | 第11-13页 |
1.2.2 国内研究现状 | 第13-14页 |
1.3 多层介质超声探伤技术国内外研究现状 | 第14-16页 |
1.4 本文研究内容及文章结构 | 第16-18页 |
1.4.1 现阶段研究的不足及本文研究内容 | 第16页 |
1.4.2 论文研究内容及结构安排 | 第16-18页 |
第2章 超声检测成像技术相关理论 | 第18-31页 |
2.1 合成孔径聚焦成像技术概述 | 第18-25页 |
2.1.1 时域合成孔径聚焦成像技术 | 第19-21页 |
2.1.2 频域合成孔径聚焦成像技术 | 第21-22页 |
2.1.3 合成孔径技术的拓展 | 第22-23页 |
2.1.4 多阵元合成孔径聚焦成像实验 | 第23-25页 |
2.2 双层介质超声成像基本理论 | 第25-29页 |
2.2.1 第一临界角和第二临界角 | 第26-29页 |
2.3 双层介质传统超声成像算法原理 | 第29-30页 |
2.4 本章小结 | 第30-31页 |
第3章 单层介质时域合成孔径成像算法改进 | 第31-48页 |
3.1 传统时域合成孔径算法的正向解释 | 第31-35页 |
3.1.1 合成孔径有效长度计算 | 第31-32页 |
3.1.2 时域合成孔径原理的正向解释 | 第32-35页 |
3.2 时域合成孔径成像算法的改进 | 第35-37页 |
3.3 时域合成孔径正向映射实现算法 | 第37-41页 |
3.4 仿真、实验与分析 | 第41-46页 |
3.4.1 矩形阵列探头声场仿真 | 第41-44页 |
3.4.2 合成孔径聚焦成像改进算法实验验证 | 第44-46页 |
3.5 本章小结 | 第46-48页 |
第4章 双层介质超声成像算法优化 | 第48-65页 |
4.1 传统时域合成孔径算法+射线跟踪技术成像原理 | 第48-50页 |
4.2 时域合成孔径成像+射线跟踪技术算法的正向解释 | 第50-52页 |
4.3 射线移动轨迹曲线的计算 | 第52-55页 |
4.4 折射线移动轨迹追踪算法 | 第55-59页 |
4.5 实验与分析 | 第59-63页 |
4.6 本章小结 | 第63-65页 |
总结与展望 | 第65-67页 |
总结 | 第65-66页 |
展望 | 第66-67页 |
致谢 | 第67-68页 |
参考文献 | 第68-72页 |
攻读硕士期间发表文章情况 | 第72-73页 |
图表索引 | 第73-74页 |