摘要 | 第1-6页 |
ABSTRACT | 第6-11页 |
第一章 绪论 | 第11-21页 |
·超高压反应器 | 第11-13页 |
·自增强技术 | 第13-16页 |
·自增强技术的发展 | 第14页 |
·自增强技术的应用 | 第14-15页 |
·自增强容器应力研究现状 | 第15-16页 |
·反应管残余应力研究动态 | 第16-18页 |
·反应管自增强残余应力松弛的研究现状 | 第16-18页 |
·超高压LDPE反应管残余应力恢复的研究现状 | 第18页 |
·本文研究意义及论文内容 | 第18-21页 |
·研究意义 | 第18-19页 |
·本文研究内容 | 第19-20页 |
·技术路线 | 第20-21页 |
第二章 反应管残余应力分布的理论研究 | 第21-36页 |
·反应管自增强应力分析 | 第21-27页 |
·反应管基本参数 | 第21-22页 |
·自增强处理残余应力分析 | 第22-24页 |
·反应管在工作压力下应力分析 | 第24-26页 |
·管壁当量应力及安全系数 | 第26-27页 |
·基于ANSYS的超高压反应器自增强有限元分析 | 第27-29页 |
·分析单元 | 第28页 |
·模型建立与网格划分 | 第28-29页 |
·边界条件及载荷 | 第29页 |
·反应管应力分析的有限元解 | 第29-35页 |
·反应管的残余应力有限元分析 | 第29-32页 |
·反应管在工作压力下有限元应力分析 | 第32-35页 |
·本章小结 | 第35-36页 |
第三章 反应管残余应力松弛的研究 | 第36-50页 |
·反应管残余应力松弛理论 | 第36-40页 |
·残余应力松弛的特点 | 第36-37页 |
·自增强残余应力松弛原因分析 | 第37-38页 |
·自增强残余应力松弛机理的初步探讨 | 第38-40页 |
·反应管残余应力测量方法 | 第40-42页 |
·残余应力测量方法介绍 | 第40页 |
·X射线残余应力测量方法 | 第40-42页 |
·反应管端面残余应力测量 | 第42-49页 |
·X射线残余应力测量仪器 | 第42-44页 |
·试样 | 第44-46页 |
·试验结果与分析 | 第46-49页 |
·本章小结 | 第49-50页 |
第四章 反应管再次自增强处理研究 | 第50-73页 |
·再次自增强处理 | 第50-56页 |
·再次自增强处理最佳弹塑性界面半径 | 第51页 |
·再次自增强处理压力与弹塑性界面半径及外壁环向应变的关系 | 第51-52页 |
·再次自增强处理的屈服压力 | 第52-53页 |
·再次自增强处理后的残余应力 | 第53-56页 |
·再次自增强处理试验装置与仪器 | 第56-59页 |
·试验对象 | 第56页 |
·再次自增强处理试验装置 | 第56-57页 |
·应变计 | 第57-58页 |
·动态数据采集系统 | 第58-59页 |
·试验准备工作 | 第59-63页 |
·压力传感器的标定 | 第59-60页 |
·动态应变仪的校验 | 第60-61页 |
·应变计布局 | 第61-62页 |
·设备连接及测量工作台 | 第62-63页 |
·再次自增强处理试验 | 第63-72页 |
·试验数据 | 第63-65页 |
·弹塑性半径分析 | 第65-69页 |
·再次自增强处理后的残余应力 | 第69-72页 |
·本章小结 | 第72-73页 |
结论及建议 | 第73-75页 |
参考文献 | 第75-80页 |
攻读硕士学位期间取得的研究成果 | 第80-81页 |
致谢 | 第81-82页 |
附件 | 第82页 |