基于超声的多层异质薄膜材料厚度检测方法研究
| 摘要 | 第5-6页 |
| abstract | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第11-20页 |
| 1.1 课题来源 | 第11页 |
| 1.2 课题研究背景及意义 | 第11-12页 |
| 1.3 涂层厚度检测的国内外研究现状 | 第12-18页 |
| 1.3.1 涂层厚度检测方法概述 | 第12-13页 |
| 1.3.2 超声检测技术简介 | 第13-17页 |
| 1.3.3 涂层厚度超声检测技术的研究现状 | 第17-18页 |
| 1.4 研究内容和章节安排 | 第18-20页 |
| 第二章 涂层材料的声学参量和声传播规律 | 第20-28页 |
| 2.1 涂层材料的声学参量 | 第20-24页 |
| 2.1.1 声阻抗 | 第20-21页 |
| 2.1.2 声速 | 第21页 |
| 2.1.3 声衰减 | 第21-23页 |
| 2.1.4 飞机隐身涂层材料的声学参量 | 第23-24页 |
| 2.2 超声波在涂层界面的传播规律 | 第24-27页 |
| 2.2.1 超声波在介质分层界面上的反射和透射 | 第24-26页 |
| 2.2.2 超声波在薄层界面的反射系数和透射系数 | 第26-27页 |
| 2.3 本章小结 | 第27-28页 |
| 第三章 涂层界面回波信号的处理方法 | 第28-42页 |
| 3.1 超声脉冲回波法的基本原理 | 第28-29页 |
| 3.2 影响回波信号质量的因素 | 第29-30页 |
| 3.2.1 检测设备与器材 | 第29页 |
| 3.2.2 耦合 | 第29-30页 |
| 3.3 超声脉冲回波信号的数学模型 | 第30-33页 |
| 3.3.1 超声脉冲回波信号数学模型的建立 | 第30-32页 |
| 3.3.2 高斯回波信号的特征参量 | 第32-33页 |
| 3.4 重叠的多重回波信号处理方法 | 第33-40页 |
| 3.4.1 涂层界面回波信号的重叠现象 | 第33页 |
| 3.4.2 涂层界面回波信号卷积模型 | 第33-35页 |
| 3.4.3 盲解（反）卷积方法 | 第35-38页 |
| 3.4.4 仿真分析 | 第38-40页 |
| 3.5 本章小结 | 第40-42页 |
| 第四章 涂层厚度的估计方法 | 第42-67页 |
| 4.1 超声回波信号的包络分析 | 第42-48页 |
| 4.1.1 希尔伯特变换 | 第42-44页 |
| 4.1.2 小波降噪处理 | 第44-48页 |
| 4.2 涂层材料厚度估计的基本架构 | 第48-49页 |
| 4.3 基于互相关法的参数TOF估计 | 第49-51页 |
| 4.3.1 互相关法的基本原理 | 第49-50页 |
| 4.3.2 仿真分析 | 第50-51页 |
| 4.4 基于曲线拟合的参数TOF估计 | 第51-60页 |
| 4.4.1 最小二乘法 | 第51-52页 |
| 4.4.2 单重回波信号的参数TOF估计与仿真 | 第52-56页 |
| 4.4.3 多重回波信号的参数TOF估计与仿真 | 第56-60页 |
| 4.5 实验验证 | 第60-66页 |
| 4.5.1 非薄膜材料的实验验证 | 第60-62页 |
| 4.5.2 薄膜材料的实验验证 | 第62-66页 |
| 4.6 本章小结 | 第66-67页 |
| 第五章 飞机隐身涂层厚度检测实验与分析 | 第67-76页 |
| 5.1 涂层厚度超声检测系统介绍 | 第67-69页 |
| 5.1.1 超声波换能器（探头）的选取 | 第67-68页 |
| 5.1.2 超声波检测系统介绍 | 第68-69页 |
| 5.2 涂层试样制备 | 第69-70页 |
| 5.3 涂层厚度检测实验 | 第70-75页 |
| 5.3.1 声速校准 | 第71页 |
| 5.3.2 单涂层厚度检测实验 | 第71-72页 |
| 5.3.3 多涂层厚度检测实验 | 第72-74页 |
| 5.3.4 影响实验结果的几个因素 | 第74-75页 |
| 5.4 本章小结 | 第75-76页 |
| 第六章 总结与展望 | 第76-78页 |
| 6.1 全文工作总结 | 第76-77页 |
| 6.2 后续工作展望 | 第77-78页 |
| 致谢 | 第78-79页 |
| 参考文献 | 第79-82页 |
