| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6页 |
| 第一章 引言 | 第10-19页 |
| 1.1 粒子物理简介 | 第10-13页 |
| 1.1.1 夸克模型 | 第10-12页 |
| 1.1.2 标准模型 | 第12-13页 |
| 1.2 粲介子物理简介 | 第13-17页 |
| 1.2.1 φ(3770)共振态 | 第14-15页 |
| 1.2.2 D介子的发现 | 第15页 |
| 1.2.3 D介子的衰变 | 第15-17页 |
| 1.3 论文选题动机 | 第17-19页 |
| 第二章 北京正负电子对撞机和北京普仪 | 第19-26页 |
| 2.1 北京正负电子对撞机(BEPCⅡ) | 第19页 |
| 2.2 北京谱仪(BESⅢ) | 第19-26页 |
| 2.2.1 束流管 | 第20页 |
| 2.2.2 主漂移室(MDC) | 第20-21页 |
| 2.2.3 飞行时间计数器(TOF) | 第21页 |
| 2.2.4 电磁量能器(EMC) | 第21-23页 |
| 2.2.5 超导磁体(Superconducting Magnet) | 第23页 |
| 2.2.6 μ子鉴别器(MUC) | 第23-24页 |
| 2.2.7 触发判选系统 | 第24页 |
| 2.2.8 数据获取系统(Data Acquisition Systerm) | 第24-25页 |
| 2.2.9 离线数据处理系统(Offline Data Analysis System) | 第25-26页 |
| 第三章 粒子鉴别 | 第26-31页 |
| 3.1 粒子鉴别系统 | 第26-28页 |
| 3.1.1 电离能损 | 第26-27页 |
| 3.1.2 飞行时间 | 第27页 |
| 3.1.3 沉积能量 | 第27-28页 |
| 3.1.4 穿透深度 | 第28页 |
| 3.2 粒子鉴别方法 | 第28-31页 |
| 3.2.1 置信度方法 | 第29-30页 |
| 3.2.2 π/K介子的鉴别条件 | 第30-31页 |
| 第四章 D~0→ωη,η~(('))π~0,η~((')η衰变分支比的测量 | 第31-52页 |
| 4.1 研究方法 | 第31页 |
| 4.2 数据样本 | 第31-33页 |
| 4.3 事例挑选 | 第33-36页 |
| 4.3.1 带电径迹 | 第33页 |
| 4.3.2 好光子 | 第33页 |
| 4.3.3 粒子鉴别(PID) | 第33页 |
| 4.3.4 π~0/η→γγ的重建 | 第33-34页 |
| 4.3.5 η'→π~+π~-η的重建 | 第34-36页 |
| 4.4 信号事例数 | 第36-39页 |
| 4.4.1 △E约束 | 第36页 |
| 4.4.2 拟合束流约束质量谱 | 第36-39页 |
| 4.5 探测效率 | 第39-42页 |
| 4.6 分支比 | 第42页 |
| 4.7 数据和MC的比较 | 第42页 |
| 4.8 系统误差 | 第42-52页 |
| 4.8.1 D~0D~0截面 | 第48页 |
| 4.8.2 数据积分亮度 | 第48页 |
| 4.8.3 MDC寻迹效率 | 第48-49页 |
| 4.8.4 粒子鉴别(PID) | 第49页 |
| 4.8.5 π~0/η重建 | 第49页 |
| 4.8.6 MBC的拟合 | 第49-50页 |
| 4.8.7 △E信号窗 | 第50页 |
| 4.8.8 引用分支比 | 第50-51页 |
| 4.8.9 MC统计涨落 | 第51页 |
| 4.8.10 ω/η/η'的边带区间设置 | 第51-52页 |
| 第五章 D_s~+数据积分亮度的测量 | 第52-63页 |
| 5.1 数据样本和测量方法 | 第52页 |
| 5.2 积分亮度 | 第52-56页 |
| 5.3 系统误差 | 第56-59页 |
| 5.3.1 |cosθ|选择条件 | 第57页 |
| 5.3.2 径迹效率 | 第57页 |
| 5.3.3 EMC沉积能量的要求 | 第57-58页 |
| 5.3.4 背景事例 | 第58-59页 |
| 5.3.5 触发效率 | 第59页 |
| 5.3.6 MC统计涨落 | 第59页 |
| 5.3.7 MC产生子 | 第59页 |
| 5.4 使用e~+e~-→(γ)γγ过程的亮度测量 | 第59-63页 |
| 第六章 总结 | 第63-64页 |
| 致谢 | 第64-66页 |
| 参考文献 | 第66-68页 |
| 附录 | 第68-72页 |
| 攻读学位期间取得的科研成果 | 第72页 |
