| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-10页 |
| 第1章 绪论 | 第10-20页 |
| ·超导材料的发展历史 | 第10-11页 |
| ·YBCO涂层超导体的发展及研究现状 | 第11-14页 |
| ·YBCO涂层导体的结构特点 | 第11-12页 |
| ·YBCO涂层导体的研究现状 | 第12-14页 |
| ·过渡层的发展及研究现状 | 第14-17页 |
| ·过渡层的选择与制备方法 | 第14-15页 |
| ·过渡层的研究现状 | 第15-16页 |
| ·LZO过渡层的研究现状 | 第16-17页 |
| ·论文研究目的、意义及研究内容 | 第17-20页 |
| ·论文研究目的及意义 | 第17-18页 |
| ·论文研究内容 | 第18-20页 |
| 第2章 实验测试方法 | 第20-28页 |
| ·物相分析 | 第20页 |
| ·织构分析 | 第20-22页 |
| ·X射线织构分析 | 第20-21页 |
| ·背散射电子衍射织构分析 | 第21-22页 |
| ·形貌分析 | 第22-24页 |
| ·扫描电镜显微分析 | 第22-23页 |
| ·原子力显微分析 | 第23-24页 |
| ·元素深度分析 | 第24-25页 |
| ·溶液稳定性分析 | 第25-28页 |
| 第3章 化学溶液法制备La_2Zr_2O_7过渡层的研究 | 第28-44页 |
| ·La_2Zr_2O_7溶液稳定性的研究 | 第28-31页 |
| ·化学溶液法制备La_2Zr_2O_7单层膜的研究 | 第31-40页 |
| ·La_2Zr_2O_7形核温度及取向生长的研究 | 第31-33页 |
| ·烧结温度及前驱液浓度对La_2Zr_2O_7薄膜性能的影响 | 第33-40页 |
| ·化学溶液法制备La_2Zr_2O_7厚膜的研究 | 第40-43页 |
| ·La_2Zr_2O_7厚膜的织构分析 | 第40-41页 |
| ·La_2Zr_2O_7厚膜的表面形貌分析 | 第41-42页 |
| ·La_2Zr_2O_7厚膜的元素扩散深度分析 | 第42-43页 |
| ·本章小结 | 第43-44页 |
| 第4章 化学溶液法制备YBCO超导薄膜的研究 | 第44-58页 |
| ·化学溶液法制备YBCO的实验过程 | 第44-45页 |
| ·化学溶液法制备YBCO/LZO(单层)/Ni5W的研究 | 第45-47页 |
| ·化学溶液法制备YBCO/LZO(单层)/Ni5W的形貌分析 | 第45-46页 |
| ·化学溶液法制备YBCO/LZO(单层)/Ni5W的织构分析 | 第46-47页 |
| ·化学溶液法制备YBCO/LZO(多层)/Ni5W的研究 | 第47-52页 |
| ·化学溶液法制备YBCO/LZO(多层)/Ni5W的织构分析 | 第47-50页 |
| ·化学溶液法在LZO(多层)/Ni5W上制备的YBCO薄膜的形貌特征 | 第50-52页 |
| ·化学溶液法制备YBCO/CeO2/LZO/Ni5W的研究 | 第52-56页 |
| ·化学溶液法制备CeO2/LZO/Ni5W薄膜的性能分析 | 第52-53页 |
| ·化学溶液法制备YBCO/CeO2/LZO/Ni5W的形貌分析 | 第53-54页 |
| ·化学溶液法制备YBCO/CeO2/LZO/Ni5W的织构分析 | 第54-56页 |
| ·本章小结 | 第56-58页 |
| 第5章 织构外延机理的研究 | 第58-70页 |
| ·薄膜织构与基底的关系 | 第58-61页 |
| ·薄膜厚度与取向的关系 | 第61-69页 |
| ·本章小结 | 第69-70页 |
| 结论与展望 | 第70-72页 |
| 参考文献 | 第72-78页 |
| 攻读硕士学位期间所发表的学术论文 | 第78-80页 |
| 致谢 | 第80页 |
