基于65nm工艺嵌入式存储器MBIST电路的研究
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-6页 |
| 目录 | 第6-8页 |
| 第1章 绪论 | 第8-14页 |
| ·集成电路的可测性设计简介 | 第8页 |
| ·存储器测试的背景和意义 | 第8-10页 |
| ·嵌入式存储器测试 | 第10-13页 |
| ·测试方法的分类 | 第10-12页 |
| ·测试方法的比较 | 第12-13页 |
| ·论文的研究内容 | 第13-14页 |
| 第2章 存储器的故障模型及常见算法 | 第14-22页 |
| ·存储器的基本分类 | 第14页 |
| ·存储器的故障类型 | 第14-18页 |
| ·存储单元阵列故障 | 第15-18页 |
| ·周边电路逻辑故障 | 第18页 |
| ·常见的存储器测试算法 | 第18-21页 |
| ·本章小结 | 第21-22页 |
| 第3章 测试电路March算法的研究 | 第22-43页 |
| ·存储器的故障建模 | 第22-24页 |
| ·单一单元故障(SCFs) | 第22-23页 |
| ·双单元故障(DCFs) | 第23-24页 |
| ·经典的March算法 | 第24-26页 |
| ·故障原语分析研究 | 第26-29页 |
| ·单一单元故障的分析 | 第26-27页 |
| ·双单元故障分析 | 第27-29页 |
| ·新March算法的提出 | 第29-31页 |
| ·算法March YF的电路实现 | 第31-36页 |
| ·MBISTArchitect使用流程 | 第31-32页 |
| ·存储器模型建模 | 第32-34页 |
| ·March YF算法的定义 | 第34-36页 |
| ·March YF仿真验证 | 第36-43页 |
| ·算法仿真 | 第36-37页 |
| ·波形描述 | 第37-43页 |
| 第4章 自定义测试电路 | 第43-52页 |
| ·测试电路的模块结构 | 第43-44页 |
| ·测试电路的工作原理 | 第44-45页 |
| ·自定义测试电路的测试方案 | 第45-48页 |
| ·保持V_(min)的测量 | 第47页 |
| ·读操作V_(min)的测量 | 第47页 |
| ·写操作V_(min)的测量 | 第47-48页 |
| ·自定义测试优点 | 第48页 |
| ·测试电路的仿真验证 | 第48-52页 |
| ·电路仿真 | 第48-49页 |
| ·波形描述 | 第49-52页 |
| 第5章 总结与展望 | 第52-53页 |
| 参考文献 | 第53-55页 |
| 附图表 | 第55-57页 |
| 致谢 | 第57页 |
