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提高电容层析成像系统测量电路灵敏度方法研究

摘要第1-6页
ABSTRACT第6-10页
第一章 绪论第10-19页
   ·课题研究背景及意义第10页
   ·电容层析成像系统及其测量电路概述第10-14页
     ·电容层析成像系统概述第10-12页
     ·电容测量电路概述第12-14页
   ·ECT测量电路国内外研究现状第14-17页
     ·国外研究现状第14-15页
     ·国内研究现状第15-17页
   ·课题主要研究内容及章节介绍第17-19页
     ·本文主要研究内容第17-18页
     ·本文章节安排与介绍第18-19页
第二章 测量电路灵敏度模型第19-33页
   ·测量电路总体框架第19页
   ·测量电路灵敏度计算模型第19-25页
     ·C/V转换电路第20-22页
     ·交流放大电路第22-23页
     ·相敏解调电路第23-25页
     ·测量电路整体灵敏度第25页
   ·电路参数选择对测量电路灵敏度的影响第25-27页
   ·杂散电容对测量电路灵敏度的影响第27-29页
     ·杂散电容分布第27-28页
     ·杂散电容对灵敏度的影响分析第28-29页
   ·激励信号对测量电路灵敏度的影响第29-30页
   ·提高测量电路灵敏度的方法第30-32页
     ·最佳激励频率法第30页
     ·相位补偿法第30-32页
   ·本章小结第32-33页
第三章 测量电路设计第33-45页
   ·总体设计方案第33页
   ·传感器结构设计第33-36页
     ·ECT传感器的结构第34页
     ·传感器结构参数对系统性能的影响第34-36页
     ·ECT系统传感器设计第36页
   ·激励源设计第36-43页
     ·激励源设计方案第37页
     ·正弦信号的产生第37-38页
     ·DDS和单片机接口设计第38-40页
     ·滤波器的设计第40-41页
     ·数字方式实现移相功能第41-43页
   ·C/V转换电路第43页
   ·相敏解调电路第43-44页
   ·本章小结第44-45页
第四章 实验结果与分析第45-53页
   ·系统性能测试实验平台第45-46页
   ·正弦信号产生电路性能测试实验第46-47页
   ·杂散电容对测量电路的影响实验第47-49页
   ·最佳激励频率验证第49-50页
   ·相位补偿法验证第50-51页
   ·测量电路稳定性实验第51-52页
   ·本章小结第52-53页
第五章 总结与展望第53-55页
   ·全文工作总结第53页
   ·本文工作展望第53-55页
参考文献第55-60页
致谢第60-61页
攻读硕士学位期间已发表、录用论文及参与科研项目情况第61页

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