| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-20页 |
| ·研究背景及意义 | 第10-14页 |
| ·MEMS 光源及标识技术研究现状 | 第14-18页 |
| ·MEMS红外光源器件研究现状 | 第14-16页 |
| ·红外光电特征标识技术研究现状 | 第16-18页 |
| ·论文研究内容 | 第18-19页 |
| ·课题来源 | 第19-20页 |
| 第二章 MEMS 红外光源辐射特性研究 | 第20-36页 |
| ·MEMS 结构黑体红外光源 | 第20-24页 |
| ·黑体热辐射理论 | 第20-22页 |
| ·光源器件结构与制备 | 第22-24页 |
| ·MEMS 红外光源性能测试分析 | 第24-35页 |
| ·辐射强度光谱分布测试分析 | 第25-29页 |
| ·电光转化效率测试分析 | 第29-31页 |
| ·驱动响应速率测试分析 | 第31-33页 |
| ·辐射体工作稳定性测试分析 | 第33-35页 |
| ·本章小结 | 第35-36页 |
| 第三章 MEMS 红外光源收敛辐射控制研究 | 第36-50页 |
| ·红外聚光反射镜结构设计与分析 | 第36-41页 |
| ·聚光反射镜结构设计 | 第36-39页 |
| ·聚光反射镜辐射效率测试 | 第39-41页 |
| ·红外准直透镜结构仿真设计 | 第41-49页 |
| ·准直透镜设计原理 | 第41-43页 |
| ·准直透镜结构仿真优化设计 | 第43-49页 |
| ·本章小结 | 第49-50页 |
| 第四章 红外标识系统辅助设计软件开发 | 第50-64页 |
| ·红外辐射作用距离理论分析 | 第50-52页 |
| ·程序设计与软件开发 | 第52-60页 |
| ·软件总体设计 | 第52-55页 |
| ·LOWTRAN 大气参数内核调用 | 第55-57页 |
| ·离散光谱辐射强度积分计算 | 第57-59页 |
| ·红外作用距离快速逼近算法 | 第59-60页 |
| ·软件封装及功能测试 | 第60-62页 |
| ·本章小结 | 第62-64页 |
| 第五章 阵列化编码调制控制技术研究 | 第64-80页 |
| ·MEMS 红外光源阵列化编码设计 | 第64-67页 |
| ·光源频率响应特性测试分析 | 第64-66页 |
| ·光源阵列动态编码总体设计 | 第66-67页 |
| ·红外光电特征标识系统设计与实现 | 第67-74页 |
| ·光源驱动单元模块设计 | 第67-70页 |
| ·光源阵列化编码调制控制方法 | 第70-72页 |
| ·红外光电标识系统实现 | 第72-74页 |
| ·红外标识系统动态成像测试分析 | 第74-79页 |
| ·点阵编码动态成像测试 | 第74-78页 |
| ·编码图形识别分析 | 第78-79页 |
| ·本章小结 | 第79-80页 |
| 第六章 总结及展望 | 第80-84页 |
| ·论文总结 | 第80-81页 |
| ·主要创新点 | 第81-82页 |
| ·工作展望 | 第82-84页 |
| 附录 | 第84-106页 |
| 附1 红外光电特征标识系统计算机辅助设计软件程序代码 | 第84-101页 |
| 附2 二维编码调制 VHDL 程序代码 | 第101-106页 |
| 参考文献 | 第106-112页 |
| 攻读硕士期间学术成果情况 | 第112-114页 |
| 致谢 | 第114页 |