柔性薄卡射频参数测试系统研究
| 致谢 | 第1-6页 |
| 摘要 | 第6-7页 |
| Abstract | 第7-11页 |
| 图清单 | 第11-13页 |
| 附表清单 | 第13-14页 |
| 1 绪论 | 第14-19页 |
| ·柔性薄卡技术概述 | 第14-15页 |
| ·柔性薄卡技术发展与现状 | 第15-17页 |
| ·研究的主要内容与意义 | 第17-18页 |
| ·论文章节安排 | 第18-19页 |
| 2 电磁场理论基础与标准依据 | 第19-39页 |
| ·电磁场理论基础 | 第19-24页 |
| ·磁场强度H | 第19-20页 |
| ·磁通量φ与磁通密度B | 第20页 |
| ·感应系数 L | 第20页 |
| ·互感系数 M | 第20-21页 |
| ·耦合系数 k | 第21-22页 |
| ·感应定律 | 第22-23页 |
| ·谐振 | 第23页 |
| ·负载调制 | 第23-24页 |
| ·测试系统基本原理 | 第24-28页 |
| ·电感耦合基本原理 | 第24-25页 |
| ·测试系统基本框架 | 第25-28页 |
| ·标准依据 | 第28-38页 |
| ·标准概述 | 第28-30页 |
| ·ISO/IEC14443 | 第30-32页 |
| ·ISO/IEC15693 | 第32-38页 |
| ·本章小结 | 第38-39页 |
| 3 测试系统硬件设计 | 第39-61页 |
| ·测试系统的基本结构 | 第39-40页 |
| ·测试系统具体方案设计 | 第40-44页 |
| ·CPU 选型与介绍 | 第40-42页 |
| ·射频前端芯片选型与介绍 | 第42-44页 |
| ·系统硬件电路设计 | 第44-53页 |
| ·上位机接口电路设计 | 第44-46页 |
| ·电源电路设计 | 第46页 |
| ·通信电路设计 | 第46-50页 |
| ·复位电路与时钟电路设计 | 第50-51页 |
| ·人机交互界面电路设计 | 第51-52页 |
| ·射频前端电路设计 | 第52-53页 |
| ·测试平台天线模块设计 | 第53-61页 |
| ·测试平台天线尺寸设计 | 第53-57页 |
| ·改进的滤波、匹配电路设计 | 第57-59页 |
| ·测试系统天线的调谐 | 第59-61页 |
| 4 测试系统软件设计 | 第61-74页 |
| ·软件开发环境及总体设计 | 第61-63页 |
| ·询卡程序设计与实现 | 第63-64页 |
| ·柔性薄卡类型的判别 | 第64-67页 |
| ·LCD 驱动程序设计 | 第67-69页 |
| ·防碰撞的实现 | 第69-74页 |
| ·防碰撞算法简介 | 第69-70页 |
| ·防碰撞程序实现 | 第70-74页 |
| 5 测试结果及分析 | 第74-77页 |
| 6 总结与展望 | 第77-79页 |
| 参考文献 | 第79-82页 |
| 作者简历 | 第82页 |
