| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-15页 |
| ·UEFI 概况和技术特点 | 第7-8页 |
| ·UEFI 对比与传统 BIOS 的优势与局限性 | 第8-10页 |
| ·新一代的固件架构与 UEFI 结构分析 | 第10-13页 |
| ·本章小结 | 第13-15页 |
| 第二章 TIANO 系统框架及 EDK 模块的研究与分析 | 第15-23页 |
| ·TIANO 系统框架及 EDK 模块介绍 | 第15-18页 |
| ·EDK 下 MDEPKG 模块的分析 | 第18-21页 |
| ·MDE 里类库 | 第18-20页 |
| ·单元库介绍 | 第20-21页 |
| ·本章小结 | 第21-23页 |
| 第三章 EDK 下应用程序的设计与实现 | 第23-31页 |
| ·EDK 的下载配置及 DEBUG 调试方法 | 第23-25页 |
| ·应用程序在 EDK 模块下的实现 | 第25-29页 |
| ·编译应用程序 | 第26页 |
| ·执行应用程序 | 第26-27页 |
| ·应用程序代码分析 | 第27-29页 |
| ·本章小结 | 第29-31页 |
| 第四章 API 性能测试在 NT32 平台及 LINUX 下的实现 | 第31-61页 |
| ·PEI 阶段底层 API 性能测试模块的总体设计及结构 | 第31-39页 |
| ·测试模块系统分析 | 第31-33页 |
| ·测试模块函数框架说明 | 第33-34页 |
| ·Debug 模块的实现 | 第34-35页 |
| ·Proxy 模块的实现 | 第35-36页 |
| ·Test 模块的实现 | 第36-39页 |
| ·PEI 阶段底层 API 性能测试在 NT32 平台的实现 | 第39-53页 |
| ·测试流程分析 | 第39-41页 |
| ·分析库嵌入到 NT32 平台 | 第41-42页 |
| ·分析库编译到 NT32 平台 | 第42-44页 |
| ·测试工具的设计与实现 | 第44-53页 |
| ·RUNTIME 阶段底层 API 性能测试的实现 | 第53-59页 |
| ·LINUX 系统调用分析 | 第54-56页 |
| ·RUNTIME 阶段底层 API 性能测试设计实现 | 第56-59页 |
| ·本章小结 | 第59-61页 |
| 第五章 总结与展望 | 第61-63页 |
| 致谢 | 第63-65页 |
| 参考文献 | 第65-67页 |
