| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-9页 |
| 第1章 绪论 | 第9-23页 |
| ·引言 | 第9-10页 |
| ·白光LED 用YAG:Ce~(3+)荧光粉的研究背景 | 第10-15页 |
| ·白光LED 用YAG:Ce~(3+)荧光粉的研究现状 | 第10-11页 |
| ·白光LED 用YAG:Ce~(3+)荧光粉的制备方法 | 第11-14页 |
| ·白光LED 用YAG:Ce~(3+)荧光粉的应用及存在问题 | 第14-15页 |
| ·白光LED 用YAG:Ce~(3+)荧光粉的表面改性 | 第15-21页 |
| ·表面改性的目的 | 第15-16页 |
| ·表面改性的方法 | 第16-18页 |
| ·荧光粉表面包膜种类 | 第18-20页 |
| ·YAG:Ce~(3+)荧光粉的表面改性研究 | 第20-21页 |
| ·本论文研究的内容与意义 | 第21-23页 |
| ·本论文研究的内容 | 第21页 |
| ·本论文研究的意义 | 第21-23页 |
| 第2章 原料、设备与测试 | 第23-26页 |
| ·原料与设备 | 第23-24页 |
| ·实验原料及试剂 | 第23页 |
| ·实验仪器与设备 | 第23-24页 |
| ·测试 | 第24-26页 |
| ·X 射线粉晶衍射测试 | 第24页 |
| ·扫描电子显微测试 | 第24页 |
| ·透射电子显微测试 | 第24页 |
| ·激光粒度测试 | 第24页 |
| ·能谱测试 | 第24-25页 |
| ·荧光光谱测试 | 第25页 |
| ·耐热衰减实验 | 第25-26页 |
| 第3章 YAG:Ce~(3+)荧光粉的包覆工艺研究 | 第26-37页 |
| ·YAG:Ce~(3+)荧光粉的特征分析 | 第26-29页 |
| ·XRD 分析 | 第26页 |
| ·SEM 分析 | 第26-27页 |
| ·TEM 分析 | 第27页 |
| ·荧光光谱分析 | 第27-29页 |
| ·包覆物的选择 | 第29页 |
| ·包覆物选择的原则 | 第29页 |
| ·包覆物的确定 | 第29页 |
| ·包覆工艺实验研究 | 第29-35页 |
| ·实验过程 | 第29-31页 |
| ·包覆样品的表征与分析 | 第31-35页 |
| ·本章小结 | 第35-37页 |
| 第4章 结果与讨论 | 第37-52页 |
| ·包覆工艺的影响 | 第37-39页 |
| ·扫描电子显微分析 | 第37-38页 |
| ·透射电子显微分析 | 第38-39页 |
| ·包覆温度的影响 | 第39-41页 |
| ·粒度 | 第39页 |
| ·荧光光谱 | 第39-41页 |
| ·包覆时间的影响 | 第41-43页 |
| ·粒度 | 第41-42页 |
| ·荧光光谱 | 第42-43页 |
| ·热处理温度的影响 | 第43-45页 |
| ·粒度 | 第43-44页 |
| ·荧光光谱 | 第44-45页 |
| ·热处理时间的影响 | 第45-47页 |
| ·粒度 | 第45-46页 |
| ·荧光光谱 | 第46-47页 |
| ·包覆量的影响 | 第47-49页 |
| ·粒度 | 第47-48页 |
| ·荧光光谱 | 第48-49页 |
| ·包覆样品的热劣化性能 | 第49-51页 |
| ·本章小结 | 第51-52页 |
| 结论 | 第52-53页 |
| 致谢 | 第53-54页 |
| 参考文献 | 第54-57页 |
| 攻读学位期间取得学术成果 | 第57页 |
| 攻读学位期间参与项目 | 第57页 |
