微处理器全速电流测试实验研究
| 摘要 | 第1-8页 |
| Abstract | 第8-9页 |
| 插图索引 | 第9-11页 |
| 附表索引 | 第11-12页 |
| 第1章 绪论 | 第12-16页 |
| ·集成电路测试概述 | 第12-14页 |
| ·研究的目的及意义 | 第14页 |
| ·本文主要工作及组织结构 | 第14-16页 |
| 第2章 研究现状及相关背景 | 第16-31页 |
| ·引言 | 第16页 |
| ·电路测试的一些基本概念 | 第16-18页 |
| ·电压测试 | 第18-21页 |
| ·故障模型 | 第18-21页 |
| ·电压测试 | 第21页 |
| ·电流测试 | 第21-30页 |
| ·稳态电流测试 | 第22-25页 |
| ·瞬态电流测试 | 第25-28页 |
| ·全速电流测试 | 第28-29页 |
| ·微处理器测试 | 第29-30页 |
| ·小结 | 第30-31页 |
| 第3章 指令级全速电流测试 | 第31-48页 |
| ·引言 | 第31页 |
| ·指令级方法概述 | 第31-32页 |
| ·指令级方法的理论基础 | 第31-32页 |
| ·指令级方法的优劣 | 第32页 |
| ·AT89C51 微控处理器介绍 | 第32-39页 |
| ·引脚说明 | 第33-35页 |
| ·内部结构 | 第35-37页 |
| ·指令系统 | 第37-38页 |
| ·指令执行时序 | 第38-39页 |
| ·各部分跳变对电流的影响 | 第39页 |
| ·指令级测试方法详述 | 第39-47页 |
| ·指令级方法的可行性分析 | 第40-41页 |
| ·测试 AT89C51 的策略 | 第41-42页 |
| ·激活通路的条件 | 第42页 |
| ·测试程序 | 第42-43页 |
| ·测试通路 | 第43-45页 |
| ·测试程序生成 | 第45-47页 |
| ·小结 | 第47-48页 |
| 第4章 实验及实验结果分析 | 第48-57页 |
| ·引言 | 第48页 |
| ·实验过程介绍 | 第48-51页 |
| ·HEX 文件格式及测试程序转换 | 第48-49页 |
| ·实验设备介绍 | 第49-51页 |
| ·实验原理图介绍 | 第51页 |
| ·实验流程及数据处理方法 | 第51页 |
| ·实验结果 | 第51-55页 |
| ·从通用寄存器至运算器（TMP1）的通路 | 第52页 |
| ·运算器输出寄存器至累加器的通路 | 第52-53页 |
| ·程序存储器至通用寄存器的通路 | 第53-55页 |
| ·累加器至内存的通路 | 第55页 |
| ·实验结果分析以及对新方法性能的评述 | 第55-56页 |
| ·小结 | 第56-57页 |
| 结束语 | 第57-58页 |
| 参考文献 | 第58-61页 |
| 致谢 | 第61-62页 |
| 附录A 攻读学位期间发表的论文和参加的项目 | 第62页 |
