CMOS数字工艺中的LNA和混频器设计
| 原创性声明和学位论文版权使用授权书 | 第1-5页 |
| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-10页 |
| 插图索引 | 第10-12页 |
| 附表索引 | 第12-13页 |
| 第1章 前言 | 第13-17页 |
| ·CMOS 射频前端的发展和应用前景 | 第13-14页 |
| ·CMOS 射频前端的研究现状 | 第14-15页 |
| ·论文的主要内容 | 第15-17页 |
| 第2章 CMOS 射频电路中的MOS 噪声 | 第17-27页 |
| ·MOS 中的噪声源 | 第17-22页 |
| ·漏电流噪声 | 第17-18页 |
| ·栅噪声 | 第18-21页 |
| ·闪烁噪声（1/ f 噪声） | 第21页 |
| ·散粒噪声 | 第21-22页 |
| ·二端口噪声网络与噪声最佳输入阻抗的推导 | 第22-26页 |
| ·本章小结 | 第26-27页 |
| 第3章 非线性效应 | 第27-34页 |
| ·电路的非线性 | 第27-31页 |
| ·基频信号增益变化 | 第27-28页 |
| ·调幅信号向调相信号转变 | 第28页 |
| ·互调 | 第28-30页 |
| ·交调 | 第30-31页 |
| ·MOS 管的非线性 | 第31-33页 |
| ·本章小结 | 第33-34页 |
| 第4章 LNA 设计 | 第34-52页 |
| ·LNA 的不同电路形式 | 第34-35页 |
| ·电感负反馈共源LNA 的噪声计算 | 第35-38页 |
| ·几种不同的LNA 设计考虑 | 第38-42页 |
| ·无约束的最优栅宽计算 | 第38-39页 |
| ·NF 优化的Q_(s,opt)计算 | 第39-40页 |
| ·功耗约束的Q_(s,opt)计算 | 第40-42页 |
| ·实际设计中的需要考虑的一些额外因素 | 第42-46页 |
| ·输入管栅极的寄生电容 | 第42-43页 |
| ·输入管源级的寄生电容 | 第43-44页 |
| ·源级电感的选择 | 第44页 |
| ·负载引起的输入端的等效电阻减小 | 第44-45页 |
| ·共栅级联MOS 管栅宽对LNA 性能的影响 | 第45-46页 |
| ·LNA 设计 | 第46-51页 |
| ·本章小结 | 第51-52页 |
| 第5章 混频器 | 第52-62页 |
| ·混频器指标 | 第52-55页 |
| ·变频增益（损耗） | 第52页 |
| ·混频器噪声 | 第52-54页 |
| ·混频器的线性度 | 第54页 |
| ·混频器的隔离度 | 第54-55页 |
| ·本振幅度 | 第55页 |
| ·杂散 | 第55页 |
| ·不同类型的混频器电路 | 第55-57页 |
| ·本文设计的混频器 | 第57-61页 |
| ·本章小结 | 第61-62页 |
| 第6章 版图与测试 | 第62-71页 |
| ·RF 版图的一些基本注意点 | 第62-64页 |
| ·LNA 与混频器版图 | 第64-66页 |
| ·整体布局 | 第64-65页 |
| ·LNA 部分 | 第65-66页 |
| ·混频器部分 | 第66页 |
| ·电路测试 | 第66-70页 |
| ·电路测试方案 | 第66-67页 |
| ·电路测试结果与分析 | 第67-70页 |
| ·本章小结 | 第70-71页 |
| 结论 | 第71-74页 |
| 参考文献 | 第74-82页 |
| 附录 A 攻读硕士期间所发表的论文 | 第82-83页 |
| 附录 B 匹配网络的计算 | 第83-86页 |
| 附录 C 整体电路图 | 第86-87页 |
| 附录 D 仿真文档 | 第87-91页 |
| 附录 E 测试电路PCB 版 | 第91-92页 |
| 附录 F LNA 测试结果图 | 第92-93页 |
| 致谢 | 第93页 |
