| 第一章 绪论 | 第1-15页 |
| 1．1 红外成像系统 | 第6-11页 |
| 1．1．1 红外成像系统的组成 | 第6-8页 |
| 1．1．2 影响红外成像系统成像质量的因素 | 第8-11页 |
| 1．2 红外成像系统几何畸变校正及盲元补偿国内外研究现状 | 第11-13页 |
| 1．2．1 红外成像系统几何畸变校正 | 第11页 |
| 1．2．2 红外焦平面阵列盲元补偿 | 第11-13页 |
| 1．3 本论文的提出及主要工作 | 第13页 |
| 1．4 本章小结 | 第13-15页 |
| 第二章 红外成像系统畸变校正 | 第15-33页 |
| 2．1 几何畸变校正算法 | 第15-25页 |
| 2．1．1 空间变换 | 第15-18页 |
| 2．1．2 灰度变换 | 第18-25页 |
| 2．1．2．1 常用的插值方法 | 第18-21页 |
| 2．1．2．2 空间可变线性插值方法及程序实现 | 第21-25页 |
| 2．2 几何畸变校正实现 | 第25-31页 |
| 2．2．1 实现流程 | 第25-26页 |
| 2．2．2 实验设备及实验数据 | 第26-27页 |
| 2．2．3 实验环境及程序实现 | 第27-29页 |
| 2．2．4 实验结果 | 第29-31页 |
| 2．3 本章小结 | 第31-33页 |
| 第三章 红外焦平面阵列盲元检测及补偿 | 第33-53页 |
| 3．1 盲元的产生及定义标准 | 第33-35页 |
| 3．1．1 盲元的产生机理 | 第33-34页 |
| 3．1．2 盲元定义标准 | 第34-35页 |
| 3．2 128×128 混合式非制冷热释电红外焦平面阵列的盲元问题 | 第35-36页 |
| 3．3 盲元检测方法 | 第36-43页 |
| 3．3．1 目前应用的盲元检测方法 | 第36-38页 |
| 3．3．2 128×128 红外焦平面阵列盲元检测 | 第38-43页 |
| 3．4 红外焦平面阵列盲元补偿 | 第43-51页 |
| 3．4．1 当前红外焦平面器件的盲元补偿方法 | 第43-45页 |
| 3．4．2 自适应加权插值盲元补偿方法 | 第45-51页 |
| 3．5 本章小结 | 第51-53页 |
| 第四章 结论及下一步工作 | 第53-55页 |
| 4．1 本文结论 | 第53页 |
| 4．2 下一步工作 | 第53-55页 |
| 参考文献 | 第55-59页 |
| 致谢 | 第59-61页 |
| 发表和拟发表的文章 | 第61-62页 |
| 作者简历 | 第62-63页 |
