结构振动主动控制中测控系统的研究
| 中文摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-8页 |
| 1 绪论 | 第8-15页 |
| ·论文背景 | 第8-10页 |
| ·测控系统的进展 | 第10-13页 |
| ·工业控制机的组成 | 第10-12页 |
| ·单片机的特点 | 第12-13页 |
| ·本文主要的工作 | 第13-15页 |
| 2 测控系统总体设计 | 第15-24页 |
| ·典型的单片机测控系统 | 第15页 |
| ·测控系统的器件选择 | 第15-22页 |
| ·功能技术指标 | 第15-16页 |
| ·单片机选择的主要依据 | 第16页 |
| ·P89C51单片机简介 | 第16-20页 |
| ·A／D、D／A芯片的选择 | 第20-22页 |
| ·硬件电路的总体设计框图 | 第22页 |
| ·软件总体设计框图 | 第22-24页 |
| 3 TLC5510及其接口设计 | 第24-36页 |
| ·TLC5510芯片简介 | 第24-27页 |
| ·TLC5510基本结构及工作原理 | 第24-27页 |
| ·TLC5510典型外围电路 | 第27页 |
| ·TLC5510前端滤波器的设计 | 第27-32页 |
| ·滤波器概述 | 第27-28页 |
| ·滤波器类型的选择 | 第28-29页 |
| ·高阶滤波器的设计方法 | 第29-30页 |
| ·LM318运算放大器介绍 | 第30-31页 |
| ·LM318四阶伯特沃斯低通滤波器的设计 | 第31-32页 |
| ·TLC5510硬件接口设计 | 第32-34页 |
| ·软件设计 | 第34-36页 |
| 4 TLC7528及其接口设计 | 第36-43页 |
| ·TLC7528芯片简介 | 第36-39页 |
| ·功能特点 | 第36-37页 |
| ·功能方框图 | 第37页 |
| ·引脚排列 | 第37页 |
| ·应用特性 | 第37-38页 |
| ·时序图 | 第38页 |
| ·工作原理 | 第38-39页 |
| ·TLC7528后端滤波器的设计 | 第39-40页 |
| ·TLC7528硬件接口设计 | 第40-42页 |
| ·软件设计 | 第42-43页 |
| 5 测控系统调试及分析 | 第43-50页 |
| ·测控系统电路板的制作 | 第43-44页 |
| ·信号采集部分调试及分析 | 第44-46页 |
| ·信号输出部分实验及分析 | 第46-49页 |
| ·测控系统总体分析 | 第49-50页 |
| 6 结构振动主动控制实验系统 | 第50-63页 |
| ·压电材料介绍 | 第50-54页 |
| ·压电材料的一般特性 | 第50页 |
| ·压电方程 | 第50-52页 |
| ·实验系统中压电陶瓷的使用 | 第52-54页 |
| ·电荷放大器 | 第54-55页 |
| ·结构振动主动控制实验系统结构 | 第55-56页 |
| ·实验系统模糊控制器的设计 | 第56-63页 |
| ·模糊控制器的简介 | 第56-59页 |
| ·实验系统模糊控制器的设计 | 第59-63页 |
| 7 结论 | 第63-64页 |
| 致谢 | 第64-65页 |
| 参考文献 | 第65-67页 |
| 发表论文 | 第67页 |
