摘要 | 第1-7页 |
Abstract | 第7-8页 |
第一章 绪论 | 第8-13页 |
1.1 课题概述 | 第8-9页 |
1.1.1 课题来源 | 第8页 |
1.1.2 课题意义 | 第8-9页 |
1.2 课题相关技术国内外研究现状 | 第9-11页 |
1.2.1 测试性技术的发展概况 | 第9-10页 |
1.2.2 测试性辅助分析与决策技术的研究现状 | 第10-11页 |
1.3 研究内容及安排 | 第11-13页 |
1.3.1 主要研究内容及研究思路 | 第11-12页 |
1.3.2 论文组织安排 | 第12-13页 |
第二章 测试性信息描述模型 | 第13-29页 |
2.1 测试性设计的基本理论 | 第13-17页 |
2.1.1 测试性设计技术的研究对象 | 第13-14页 |
2.1.2 测试性的度量 | 第14-15页 |
2.1.3 测试性设计的基本流程 | 第15-16页 |
2.1.4 系统测试方案的影响因素及构成要素 | 第16-17页 |
2.2 故障模式及影响分析 | 第17-20页 |
2.2.1 概述 | 第18页 |
2.2.2 分析方法 | 第18-19页 |
2.2.3 严酷度类别的确定 | 第19页 |
2.2.4 FMEA工作程序 | 第19-20页 |
2.3 测试性信息描述 | 第20-27页 |
2.3.1 信息流模型 | 第20-23页 |
2.3.2 多信号流图模型 | 第23-24页 |
2.3.3 EXPRESS-G的测试性信息描述模型 | 第24-27页 |
2.3.4 测试性信息数据库 | 第27页 |
2.4 本章小结 | 第27-29页 |
第三章 测试选择方法研究 | 第29-47页 |
3.1 测试选择问题的数学描述 | 第29-35页 |
3.1.1 测试性参数的描述 | 第29-32页 |
3.1.2 测试集完备性描述 | 第32-33页 |
3.1.3 测试选择问题 | 第33-35页 |
3.2 测试选择优化方法 | 第35-39页 |
3.2.1 几种组合优化算法 | 第35-36页 |
3.2.2 基于逻辑运算的最优解 | 第36-38页 |
3.2.3 基于贪婪策略的优化算法 | 第38-39页 |
3.3 测试选择的遗传算法 | 第39-46页 |
3.3.1 遗传算法基本知识 | 第39-41页 |
3.3.2 最优测试方案的解区及选择函数 | 第41-42页 |
3.3.3 单个测试评估函数 | 第42-43页 |
3.3.4 适应度函数 | 第43-44页 |
3.3.5 实例验证 | 第44-46页 |
3.4 本章小结 | 第46-47页 |
第四章 测试序列优化研究 | 第47-62页 |
4.1 测试序列问题的描述 | 第47-49页 |
4.1.1 问题的产生 | 第47-48页 |
4.1.2 测试序列代价描述 | 第48-49页 |
4.2 测试序列优化方法 | 第49-55页 |
4.2.1 测试序列的产生 | 第49-52页 |
4.2.2 启发式评估函数 | 第52-54页 |
4.2.3 动态规划 | 第54-55页 |
4.2.4 “贪婪”启发式搜索 | 第55页 |
4.3 AO~*算法的求解 | 第55-61页 |
4.3.1 与或树的解树及其费用 | 第56页 |
4.3.2 算法的步骤 | 第56-58页 |
4.3.3 算法的验证 | 第58-61页 |
4.4 本章小结 | 第61-62页 |
第五章 测试性辅助分析与决策系统 | 第62-72页 |
5.1 系统的结构 | 第62-63页 |
5.2 系统的软件实现 | 第63-67页 |
5.2.1 系统界面 | 第63-64页 |
5.2.2 数据库建立 | 第64-65页 |
5.2.3 测试选择优化功能模块 | 第65页 |
5.2.4 测试序列优化模块 | 第65-67页 |
5.3 机电跟踪与稳定伺服平台BIT设计应用 | 第67-71页 |
5.3.1 机电跟踪与稳定伺服平台简介 | 第67页 |
5.3.2 机电跟踪与稳定伺服平台测试优化设计 | 第67-71页 |
5.4 本章小结 | 第71-72页 |
第六章 总结与展望 | 第72-74页 |
6.1 全文总结 | 第72页 |
6.2 研究展望 | 第72-74页 |
致谢 | 第74-75页 |
参考文献 | 第75-78页 |
附录攻读硕士学位期间发表的学术论文 | 第78页 |