首页--工业技术论文--机械、仪表工业论文--机械运行与维修论文

机电产品测试性辅助分析与决策相关技术研究

摘要第1-7页
Abstract第7-8页
第一章 绪论第8-13页
 1.1 课题概述第8-9页
  1.1.1 课题来源第8页
  1.1.2 课题意义第8-9页
 1.2 课题相关技术国内外研究现状第9-11页
  1.2.1 测试性技术的发展概况第9-10页
  1.2.2 测试性辅助分析与决策技术的研究现状第10-11页
 1.3 研究内容及安排第11-13页
  1.3.1 主要研究内容及研究思路第11-12页
  1.3.2 论文组织安排第12-13页
第二章 测试性信息描述模型第13-29页
 2.1 测试性设计的基本理论第13-17页
  2.1.1 测试性设计技术的研究对象第13-14页
  2.1.2 测试性的度量第14-15页
  2.1.3 测试性设计的基本流程第15-16页
  2.1.4 系统测试方案的影响因素及构成要素第16-17页
 2.2 故障模式及影响分析第17-20页
  2.2.1 概述第18页
  2.2.2 分析方法第18-19页
  2.2.3 严酷度类别的确定第19页
  2.2.4 FMEA工作程序第19-20页
 2.3 测试性信息描述第20-27页
  2.3.1 信息流模型第20-23页
  2.3.2 多信号流图模型第23-24页
  2.3.3 EXPRESS-G的测试性信息描述模型第24-27页
  2.3.4 测试性信息数据库第27页
 2.4 本章小结第27-29页
第三章 测试选择方法研究第29-47页
 3.1 测试选择问题的数学描述第29-35页
  3.1.1 测试性参数的描述第29-32页
  3.1.2 测试集完备性描述第32-33页
  3.1.3 测试选择问题第33-35页
 3.2 测试选择优化方法第35-39页
  3.2.1 几种组合优化算法第35-36页
  3.2.2 基于逻辑运算的最优解第36-38页
  3.2.3 基于贪婪策略的优化算法第38-39页
 3.3 测试选择的遗传算法第39-46页
  3.3.1 遗传算法基本知识第39-41页
  3.3.2 最优测试方案的解区及选择函数第41-42页
  3.3.3 单个测试评估函数第42-43页
  3.3.4 适应度函数第43-44页
  3.3.5 实例验证第44-46页
 3.4 本章小结第46-47页
第四章 测试序列优化研究第47-62页
 4.1 测试序列问题的描述第47-49页
  4.1.1 问题的产生第47-48页
  4.1.2 测试序列代价描述第48-49页
 4.2 测试序列优化方法第49-55页
  4.2.1 测试序列的产生第49-52页
  4.2.2 启发式评估函数第52-54页
  4.2.3 动态规划第54-55页
  4.2.4 “贪婪”启发式搜索第55页
 4.3 AO~*算法的求解第55-61页
  4.3.1 与或树的解树及其费用第56页
  4.3.2 算法的步骤第56-58页
  4.3.3 算法的验证第58-61页
 4.4 本章小结第61-62页
第五章 测试性辅助分析与决策系统第62-72页
 5.1 系统的结构第62-63页
 5.2 系统的软件实现第63-67页
  5.2.1 系统界面第63-64页
  5.2.2 数据库建立第64-65页
  5.2.3 测试选择优化功能模块第65页
  5.2.4 测试序列优化模块第65-67页
 5.3 机电跟踪与稳定伺服平台BIT设计应用第67-71页
  5.3.1 机电跟踪与稳定伺服平台简介第67页
  5.3.2 机电跟踪与稳定伺服平台测试优化设计第67-71页
 5.4 本章小结第71-72页
第六章 总结与展望第72-74页
 6.1 全文总结第72页
 6.2 研究展望第72-74页
致谢第74-75页
参考文献第75-78页
附录攻读硕士学位期间发表的学术论文第78页

论文共78页,点击 下载论文
上一篇:6502MCU在线仿真器的研制
下一篇:汇率制度和经济绩效--发展中国家的经验及对我国的启示