基于LabVIEW的氧化镁晶体冶炼监控系统
| 1 绪论 | 第1-13页 |
| ·课题背景 | 第7页 |
| ·基于pc的测控技术的发展及虚拟仪器 | 第7-9页 |
| ·虚拟仪器的概念 | 第8页 |
| ·虚拟仪器的构成及其分类 | 第8-9页 |
| ·图形化开发平台LabVIEW及G语言 | 第9-11页 |
| ·LabVIEW的起源及发展 | 第9-10页 |
| ·G语言与虚拟仪器 | 第10-11页 |
| ·LabVIEW应用解决方案 | 第11页 |
| ·本章小结 | 第11-13页 |
| 2 系统总体设计 | 第13-22页 |
| ·系统组成及工作原理概述 | 第13-14页 |
| ·数据采集基本理论 | 第14-17页 |
| ·过程通道 | 第14页 |
| ·信号变换中的采样、量化和编码 | 第14-15页 |
| ·A/D转换过程 | 第15-16页 |
| ·A/D、D/A转换器的主要技术指标 | 第16-17页 |
| ·PCI技术规范简介 | 第17-20页 |
| ·PC-DAQ系统 | 第20-21页 |
| ·本章小结 | 第21-22页 |
| 3 上位机系统软件开发 | 第22-40页 |
| ·方案选择 | 第22页 |
| ·软件结构 | 第22-23页 |
| ·硬件驱动程序NI-DAQ | 第23-24页 |
| ·MAX环境及其设置 | 第24-27页 |
| ·应用程序开发 | 第27-39页 |
| ·数据采集及工业控制应用程序开发 | 第28-38页 |
| ·数字滤波的实现 | 第38-39页 |
| ·本章小结 | 第39-40页 |
| 4 硬件平台的构建及硬件抗干扰 | 第40-48页 |
| ·工控机 | 第40页 |
| ·多功能数据采集卡PCI-6023E | 第40-45页 |
| ·外围硬件设备 | 第45页 |
| ·系统的硬件抗干扰措施 | 第45-47页 |
| ·本章小结 | 第47-48页 |
| 5 结论 | 第48-52页 |
| ·工程效果 | 第48-50页 |
| ·展望 | 第50-52页 |
| 参考文献 | 第52-54页 |
| 致谢 | 第54-56页 |