内容提要 | 第1-10页 |
第1章 绪论 | 第10-16页 |
·论文工作的意义 | 第10页 |
·基于数字图像的尺寸测量技术 | 第10-14页 |
·边缘检测技术 | 第11-12页 |
·CCD摄像机的双目标定 | 第12-13页 |
·点的三维坐标测量 | 第13-14页 |
·本文研究工作 | 第14-16页 |
第2章 基于拟合方法的亚像素边缘检测算法 | 第16-31页 |
·基于拟合方法的亚像素边缘检测算法原理 | 第16-17页 |
·算法实现过程 | 第17-20页 |
·修正贝塞尔型点扩散函数 | 第20-30页 |
·传统点扩散函数 | 第20-23页 |
·高斯拟合与贝塞尔拟合效果比较 | 第23-26页 |
·贝塞尔型点扩散函数的修正 | 第26-30页 |
·本章小结 | 第30-31页 |
第3章 基于修正贝塞尔函数的亚像素边缘检测算法分析 | 第31-53页 |
·修正贝塞尔拟合和高斯拟合的关系 | 第31-34页 |
·窗口大小对边缘位置和拟合参数的影响 | 第34-36页 |
·灰度差对拟合参数的影响 | 第36-40页 |
·拟合法分辨率的测验 | 第40-48页 |
·灰度差对分辨率的影响 | 第48-51页 |
·本章小结 | 第51-53页 |
第4章 摄像机的双目标定 | 第53-77页 |
·双目立体视觉原理 | 第53-56页 |
·基于 Tsai 算法的标定法 | 第56-61页 |
·基于 Tsai 的改进标定法 | 第61-67页 |
·实验及数据处理 | 第67-75页 |
·获取标定图像 | 第68-69页 |
·角点的提取 | 第69页 |
·标定实验数据 | 第69-74页 |
·实验分析及结论 | 第74-75页 |
·本章小结 | 第75-77页 |
第5章 点的三维坐标及尺寸测量 | 第77-96页 |
·概述 | 第77-78页 |
·两种点的三维坐标确定方法比较 | 第78-87页 |
·基于最小二乘法的三维测量方法 | 第78-80页 |
·基于公垂线法的重建方法 | 第80-87页 |
·实验及分析 | 第87-91页 |
·实验方案 | 第87-90页 |
·实验数据与分析 | 第90-91页 |
·三维坐标尺寸测量 | 第91-95页 |
·零件平面尺寸测量与精度分析 | 第91-93页 |
·零件三维尺寸测量与精度分析 | 第93-95页 |
·本章小结 | 第95-96页 |
第6章 结论与展望 | 第96-98页 |
·结论 | 第96页 |
·不足和展望 | 第96-98页 |
参考文献 | 第98-108页 |
附录1 | 第108-114页 |
附录2 | 第114-116页 |
附录3 | 第116-121页 |
附录4 | 第121-122页 |
附录5 | 第122-123页 |
附录6 | 第123-124页 |
攻读博士学位期间发表的论文 | 第124-125页 |
致谢 | 第125-126页 |
摘要 | 第126-129页 |
ABSTRACT | 第129-132页 |