| 摘要 | 第1-7页 |
| Abstract | 第7-13页 |
| 第一章 绪论 | 第13-34页 |
| ·前言 | 第13页 |
| ·重金属离子检测方法 | 第13-14页 |
| ·离子荧光探针 | 第14-18页 |
| ·识别基团 | 第15-16页 |
| ·荧光基团 | 第16-18页 |
| ·染料掺杂二氧化硅纳米粒子 | 第18-29页 |
| ·染料掺杂二氧化硅纳米粒子的制备 | 第18-25页 |
| ·染料掺杂二氧化硅纳米粒子的特点 | 第25-26页 |
| ·染料掺杂二氧化硅纳米粒子的应用 | 第26-29页 |
| ·基于FRET原理的比率型荧光探针 | 第29-32页 |
| ·FRET基本原理 | 第30-31页 |
| ·基于FRET原理比率型荧光探针的设计 | 第31-32页 |
| ·本课题的提出与研究内容 | 第32-34页 |
| 第二章 基于FRET机理的核壳结构二氧化硅纳米粒子体系对Hg~(2+)的荧光比率检测 | 第34-58页 |
| ·引言 | 第34-35页 |
| ·实验部分 | 第35-39页 |
| ·合成路线 | 第35-37页 |
| ·试剂 | 第37页 |
| ·合成与制备 | 第37-39页 |
| ·测试与表征 | 第39页 |
| ·结果与讨论 | 第39-57页 |
| ·汞离子荧光探针前驱体RHB-OET的结构表征 | 第39-43页 |
| ·供体前驱体NBD-APS的结构表征 | 第43-44页 |
| ·含NBD染料的核壳结构纳米粒子的光谱学性质 | 第44-46页 |
| ·含供体和荧光探针的核壳结构纳米粒子的吸收光谱 | 第46-47页 |
| ·基于FRET机理的核壳结构纳米粒子体系的构建 | 第47-48页 |
| ·核壳结构纳米粒子体系对Hg~(2+)的荧光比率检测 | 第48-50页 |
| ·核壳结构纳米粒子中NBD的荧光寿命 | 第50-53页 |
| ·核壳结构纳米粒子的粒径表征及FRET临界半径（R0）的计算 | 第53-54页 |
| ·核壳结构纳米粒子检测体系的选择性 | 第54-55页 |
| ·核壳结构纳米粒子检测体系的抗干扰性 | 第55-57页 |
| ·本章小结 | 第57-58页 |
| 第三章 基于FRET机理的多层二氧化硅纳米粒子体系对Hg~(2+)的荧光比率检测 | 第58-83页 |
| ·引言 | 第58-59页 |
| ·实验部分 | 第59-64页 |
| ·合成路线 | 第59-61页 |
| ·试剂 | 第61页 |
| ·合成与制备 | 第61-63页 |
| ·测试与表征 | 第63-64页 |
| ·结果与讨论 | 第64-82页 |
| ·汞离子荧光探针前驱体SRHB-OET的结构表征 | 第64-67页 |
| ·供体前驱体NBD-APS的结构表征 | 第67页 |
| ·多层结构纳米粒子制备及各中间阶段产物的光谱学性质 | 第67-69页 |
| ·多层结构纳米粒子制备过程中的粒径变化 | 第69-70页 |
| ·多层结构纳米粒子的吸收光谱对汞离子的响应 | 第70-71页 |
| ·多层结构纳米粒子的汞离子检测体系的构建 | 第71-72页 |
| ·多层结构纳米粒子体系对Hg~(2+)的比率检测 | 第72-76页 |
| ·多层结构纳米粒子体系中NBD的荧光寿命考察 | 第76-78页 |
| ·多层结构纳米粒子检测体系的选择性 | 第78-80页 |
| ·多层结构纳米粒子检测体系的抗干扰性 | 第80-81页 |
| ·多层结构纳米粒子荧光比率检测的pH值适用范围 | 第81-82页 |
| ·本章小结 | 第82-83页 |
| 第四章 水溶性CdTe量子点的合成及在硅粒子荧光检测体系中的应用 | 第83-102页 |
| ·引言 | 第83-84页 |
| ·实验部分 | 第84-88页 |
| ·合成路线 | 第84-85页 |
| ·试剂 | 第85-86页 |
| ·合成与制备 | 第86-87页 |
| ·测试与表征 | 第87-88页 |
| ·结果与讨论 | 第88-101页 |
| ·CdTe/Si0_2复合荧光纳米粒子的光谱性质 | 第88-89页 |
| ·CdTe/Si0_2复合荧光纳米粒子制备过程中的光谱学性质 | 第89-91页 |
| ·CdTe/Si0_2复合荧光纳米粒子制备过程中的粒径表征 | 第91-92页 |
| ·CdTe/Si0_2复合荧光纳米粒子对汞离子的响应分析 | 第92-94页 |
| ·CdTe/Si0_2复合荧光纳米粒子的吸收光谱 | 第94页 |
| ·CdTe/Si0_2复合荧光纳米粒子对汞离子检测体系的构建 | 第94-95页 |
| ·CdTe/Si0_2复合荧光纳米粒子对Hg~(2+)的比率检测 | 第95-97页 |
| ·CdTe/Si0_2复合荧光纳米粒子中量子点的荧光寿命 | 第97-98页 |
| ·CdTe/Si0_2复合荧光纳米粒子检测体系的选择性 | 第98-99页 |
| ·CdTe/Si0_2复合荧光纳米粒子检测体系的抗干扰性 | 第99-100页 |
| ·CdTe/Si0_2复合荧光纳米粒子的荧光比率检测的pH值适用范围 | 第100-101页 |
| ·本章小结 | 第101-102页 |
| 第五章 基于FRET机理的多层二氧化硅膜对Hg~(2+)的荧光比率检测 | 第102-116页 |
| ·引言 | 第102-103页 |
| ·实验部分 | 第103-106页 |
| ·合成路线 | 第103页 |
| ·试剂 | 第103-104页 |
| ·合成与制备 | 第104-105页 |
| ·测试与表征 | 第105-106页 |
| ·结果与讨论 | 第106-115页 |
| ·多层二氧化硅膜制备过程中的光谱学性质 | 第106-107页 |
| ·多层二氧化硅膜体系膜厚表征 | 第107-109页 |
| ·多层二氧化硅膜检测汞离子体系的构建 | 第109-110页 |
| ·多层二氧化硅膜对Hg~(2+)的比率检测 | 第110-112页 |
| ·多层二氧化硅膜体系中NBD的荧光寿命 | 第112-113页 |
| ·多层二氧化硅膜检测体系的选择性 | 第113页 |
| ·多层二氧化硅膜检测体系的抗干扰性 | 第113-114页 |
| ·多层二氧化硅膜的比率检测的pH值适用范围 | 第114-115页 |
| ·本章小结 | 第115-116页 |
| 结论 | 第116-118页 |
| 参考文献 | 第118-135页 |
| 攻读博士学位期间取得的研究成果 | 第135-136页 |
| 致谢 | 第136-137页 |
| 附件 | 第137页 |
