用于故障诊断的电路板测试系统软件平台设计
摘要 | 第5-6页 |
Abstract | 第6-7页 |
第一章 绪论 | 第10-16页 |
1.1 研究背景介绍 | 第10-11页 |
1.2 电路板相关技术综述 | 第11-14页 |
1.2.1 TPS开发与运行环境简述 | 第11-13页 |
1.2.2 故障诊断方法研究概况 | 第13-14页 |
1.3 论文研究目的及意义 | 第14-15页 |
1.4 论文研究内容和章节安排 | 第15-16页 |
第二章 故障树分析法研究 | 第16-30页 |
2.1 故障树概述 | 第16-17页 |
2.2 故障树定性分析 | 第17-22页 |
2.2.1 结构函数 | 第17-18页 |
2.2.2 割集与最小割集 | 第18-20页 |
2.2.3 Fussell-Vasely算法实现 | 第20-21页 |
2.2.4 路集与最小路集 | 第21-22页 |
2.3 故障树定量分析 | 第22-28页 |
2.3.1 顶事件不可靠度 | 第22-23页 |
2.3.2 直接不交化 | 第23-26页 |
2.3.3 相关重要度分析 | 第26-27页 |
2.3.4 系统不确定性分析 | 第27-28页 |
2.4 本章小结 | 第28-30页 |
第三章 TPS开发平台的设计与实现 | 第30-50页 |
3.1 图形化组件的设计 | 第30-37页 |
3.1.1 组件设计 | 第30-31页 |
3.1.2 辅助参数 | 第31-32页 |
3.1.3 组件连接 | 第32-35页 |
3.1.4 组件分支 | 第35-37页 |
3.2 组件分类 | 第37-40页 |
3.2.1 仪器控制组件 | 第37-39页 |
3.2.2 故障诊断组件 | 第39-40页 |
3.2.3 方法集合组件 | 第40页 |
3.3 测试MustFlow设计 | 第40-42页 |
3.4 TPS的保存和加载 | 第42-47页 |
3.4.1 JSON技术 | 第42-43页 |
3.4.2 保存功能的实现 | 第43-45页 |
3.4.3 加载功能的实现 | 第45-47页 |
3.5 TPS开发平台界面功能设计 | 第47-49页 |
3.6 本章小结 | 第49-50页 |
第四章 标点与故障树分析界面的设计与实现 | 第50-62页 |
4.1 标点界面 | 第50-56页 |
4.1.1 界面总体设计 | 第50-51页 |
4.1.2 标点类型 | 第51-54页 |
4.1.3 记忆标点与故障跳转 | 第54-56页 |
4.2 故障树分析界面 | 第56-58页 |
4.2.1 界面总体设计 | 第56-57页 |
4.2.2 具体模块设计 | 第57-58页 |
4.3 故障诊断流程 | 第58-60页 |
4.4 本章小结 | 第60-62页 |
第五章 电路板测试系统的应用和验证 | 第62-70页 |
5.1 电路板测试系统概述 | 第62-65页 |
5.1.1 测点定位平台 | 第63-64页 |
5.1.2 三轴定位平台 | 第64-65页 |
5.2 故障诊断测试 | 第65-69页 |
5.2.1 故障树的建立与分析 | 第65-68页 |
5.2.2 TPS编写 | 第68页 |
5.2.3 测试结果 | 第68-69页 |
5.3 本章小结 | 第69-70页 |
第六章 总结和展望 | 第70-72页 |
6.1 总结 | 第70页 |
6.2 展望 | 第70-72页 |
致谢 | 第72-74页 |
参考文献 | 第74-77页 |
攻读硕士学位期间发表的论文 | 第77页 |