| 摘要 | 第4-5页 |
| abstract | 第5-6页 |
| 1 绪论 | 第10-20页 |
| 1.1 超滤技术 | 第10-11页 |
| 1.1.1 超滤技术简介 | 第10页 |
| 1.1.2 超滤技术特点 | 第10-11页 |
| 1.2 超滤膜污染 | 第11-13页 |
| 1.2.1 概述及分类 | 第11-12页 |
| 1.2.2 超滤膜污染影响因素 | 第12-13页 |
| 1.3 低温等离子体技术 | 第13-15页 |
| 1.3.1 低温等离子体概述 | 第13页 |
| 1.3.2 低温等离子体的产生 | 第13-14页 |
| 1.3.3 等离子体改性超滤膜 | 第14-15页 |
| 1.4 电磁场对等离子体的作用 | 第15-16页 |
| 1.4.1 外加电场对等离子体的影响 | 第15页 |
| 1.4.2 外加磁场对等离子体的影响 | 第15-16页 |
| 1.5 等离子体诊断 | 第16-18页 |
| 1.5.1 等离子体的特征参量 | 第16-17页 |
| 1.5.2 等离子体诊断方法 | 第17-18页 |
| 1.6 本课题提出的意义 | 第18-19页 |
| 1.7 本课题的主要研究内容 | 第19-20页 |
| 2 实验部分 | 第20-30页 |
| 2.1 实验材料 | 第20页 |
| 2.2 实验仪器装置及试剂 | 第20-21页 |
| 2.3 外加电场协同等离子体改性实验 | 第21-23页 |
| 2.3.1 等离子体放电装置 | 第21页 |
| 2.3.2 外加径向电场 | 第21-22页 |
| 2.3.3 外加电场协同等离子体改性 | 第22-23页 |
| 2.4 超滤膜亲水性能测试 | 第23-24页 |
| 2.5 PSF超滤膜通量测定及性能研究 | 第24-27页 |
| 2.5.1 膜通量测试方法 | 第24-25页 |
| 2.5.2 截留率测试方法 | 第25-26页 |
| 2.5.3 评价指标 | 第26-27页 |
| 2.6 扫描电子显微镜(SEM) | 第27页 |
| 2.7 等离子体诊断 | 第27-30页 |
| 2.7.1 发射光谱法 | 第27-28页 |
| 2.7.2 Langmuir探针 | 第28-30页 |
| 3 外加电场对等离子体改性超滤膜的协同作用 | 第30-38页 |
| 3.1 等离子体改性条件对接触角的影响 | 第30-32页 |
| 3.1.1 放电功率 | 第30-31页 |
| 3.1.2 处理时间 | 第31页 |
| 3.1.3 体系压强 | 第31-32页 |
| 3.2 外加电场协同等离子体改性条件对接触角的影响 | 第32-35页 |
| 3.2.1 电场位置 | 第32-33页 |
| 3.2.2 电压 | 第33-34页 |
| 3.2.3 处理功率 | 第34页 |
| 3.2.4 处理时间 | 第34-35页 |
| 3.3 小结 | 第35-38页 |
| 4 PSF超滤膜的抗污染性能研究 | 第38-46页 |
| 4.1 超滤膜通量 | 第38-40页 |
| 4.1.1 纯水通量分析 | 第38-39页 |
| 4.1.2 BSA通量分析 | 第39-40页 |
| 4.1.3 过滤BSA后纯水通量分析 | 第40页 |
| 4.2 超滤膜分离性能和抗污染能力 | 第40-42页 |
| 4.2.1 PSF超滤膜通量衰减率的变化 | 第41页 |
| 4.2.2 PSF超滤膜污染率的变化 | 第41-42页 |
| 4.2.3 PSF超滤膜截留率的变化 | 第42页 |
| 4.3 SEM表征 | 第42-43页 |
| 4.4 超滤膜的渗透性研究 | 第43-45页 |
| 4.5 小结 | 第45-46页 |
| 5 低温等离子体的诊断研究 | 第46-60页 |
| 5.1 发射光谱法诊断 | 第46-53页 |
| 5.1.1 等离子体改性发射光谱 | 第46-47页 |
| 5.1.2 外加电场协同等离子体改性发射光谱 | 第47-49页 |
| 5.1.3 电子温度的计算 | 第49-53页 |
| 5.2 Langmuir探针诊断 | 第53-57页 |
| 5.2.1 未加电场的等离子体电子密度 | 第54-55页 |
| 5.2.2 外加电场下等离子体电子密度 | 第55-57页 |
| 5.3 小结 | 第57-60页 |
| 6 结论 | 第60-62页 |
| 参考文献 | 第62-68页 |
| 攻读学位期间发表论文清单 | 第68-70页 |
| 致谢 | 第70页 |