摘要 | 第5-6页 |
abstract | 第6-7页 |
第1章 绪论 | 第10-23页 |
1.1 背景及意义 | 第10-11页 |
1.2 研究现状 | 第11-19页 |
1.2.1 纠错/检错编码盲识别技术 | 第11-15页 |
1.2.2 卷积编码及参数估计技术 | 第15-19页 |
1.3 研究内容的提出和内容框架 | 第19-21页 |
1.3.1 现有卷积编码参数识别算法及性能简述 | 第19页 |
1.3.2 研究对象的选取和研究内容的提出 | 第19-21页 |
1.4 论文章节安排 | 第21-23页 |
第2章 卷积码编码原理及其参数估计技术 | 第23-32页 |
2.1 卷积码原理 | 第23-25页 |
2.1.1 基本概念 | 第23-24页 |
2.1.2 生成原理 | 第24-25页 |
2.2 卷积码识别技术 | 第25-31页 |
2.2.1 基于解线性方程组的识别技术 | 第26-27页 |
2.2.2 基于关键方程的识别技术 | 第27-28页 |
2.2.3 基于Walsh-Hadamard变换的识别技术 | 第28-30页 |
2.2.4 基于校验矩阵的匹配识别技术 | 第30页 |
2.2.5 性能分析 | 第30-31页 |
2.3 本章小结 | 第31-32页 |
第3章 基于欧几里德法的参数估计算法及其改进算法 | 第32-46页 |
3.1 基于欧几里德法的卷积编码参数估计算法 | 第32-36页 |
3.1.1 算法原理 | 第32-33页 |
3.1.2 识别依据 | 第33-34页 |
3.1.3 识别方案 | 第34-36页 |
3.2 适用于k/n码率卷积编码的参数估计算法 | 第36-41页 |
3.2.1 整体方案 | 第36页 |
3.2.2 码字同步搜索 | 第36-38页 |
3.2.3 k/n码率卷积编码参数 | 第38-41页 |
3.3 性能分析 | 第41-45页 |
3.4 本章小结 | 第45-46页 |
第4章 基于主元消元法的参数估计算法及其改进算法 | 第46-62页 |
4.1 基于主元消元法的卷积编码参数估计算法 | 第46-53页 |
4.1.1 基本原理 | 第46-49页 |
4.1.2 整体识别方案 | 第49页 |
4.1.3 码长识别 | 第49-52页 |
4.1.4 码率和校验向量估计 | 第52-53页 |
4.2 具有较好容错性的参数估计算法 | 第53-57页 |
4.2.1 整体方案和设计思路 | 第53-54页 |
4.2.2 码长识别的改进方法 | 第54-56页 |
4.2.3 码字起始位置识别 | 第56-57页 |
4.3 性能分析 | 第57-61页 |
4.4 本章小结 | 第61-62页 |
结论 | 第62-64页 |
参考文献 | 第64-69页 |
致谢 | 第69-70页 |
个人工作简历 | 第70页 |