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D-A型有机分子共轭面特征变化对多进制存储性能调控研究

中文摘要第4-7页
abstract第7-10页
第一章 绪论第15-53页
    1.1 有机半导体及存储材料的研究现状和发展前景第15-18页
    1.2 有机电存储材料的种类第18-27页
        1.2.1 共轭聚合物存储材料第18-22页
        1.2.2 共轭小分子存储材料第22-25页
        1.2.3 其它类型的有机电存储材料第25-27页
            1.2.3.1 有机共混电存储材料第25-26页
            1.2.3.2 有机-无机杂化电存储材料第26-27页
    1.3 有机电存储材料的发展趋势第27-28页
    1.4 基于D-A型有机分子共轭面特征变化的调控和构建策略第28-47页
        1.4.1 分子平面性调节策略第28-32页
        1.4.2 分子共轭链长度调节策略第32-36页
        1.4.3 分子对称性调节策略第36-38页
        1.4.4 杂原子取代调节策略第38-47页
            1.4.4.1 氧-硫-硒杂原子取代效应第38-40页
            1.4.4.2 氟原子取代效应第40-43页
            1.4.4.3 氮原子取代效应第43-47页
    1.5 本论文的目的意义和研究内容第47-53页
        1.5.1 本论文选题的目的及意义第47-48页
        1.5.2 本论文的研究内容第48-51页
        1.5.3 本论文的创新点第51-53页
第二章 基于DPP共轭小分子的平面性调节对薄膜结晶取向及多进制存储性能影响研究第53-70页
    2.1 引言第53-54页
    2.2 实验部分第54-59页
        2.2.1 原料与试剂第55页
        2.2.2 NI_2PDPP和NI_2FDPP的合成第55-58页
        2.2.3 电存储器件的制备第58页
        2.2.4 测试方法第58-59页
    2.3 结果与讨论第59-69页
        2.3.1 合成及热稳定性表征第59页
        2.3.2 光学和电化学性质第59-61页
        2.3.3 理论计算第61-62页
        2.3.4 薄膜表面形貌表征第62页
        2.3.5 薄膜微观纳米结构表征第62-65页
        2.3.6 器件存储性能第65-66页
        2.3.7 器件存储性能重现性第66-67页
        2.3.8 器件存储机制第67-69页
    2.4 本章小结第69-70页
第三章 共轭分子中引入噻吩桥键对多进制存储性能的影响及其机理的拓展研究第70-88页
    3.1 引言第70-71页
    3.2 实验部分第71-77页
        3.2.1 原料与试剂第71页
        3.2.2 NITnCzNO_2(n=0,1,2)系列小分子的合成第71-77页
        3.2.3 电存储器件的制备第77页
        3.2.4 测试方法第77页
    3.3 结果与讨论第77-87页
        3.3.1 合成及热稳定性表征第77-78页
        3.3.2 理论计算第78页
        3.3.3 光学和电化学性质第78-79页
        3.3.4 薄膜表面形貌表征第79页
        3.3.5 薄膜微观纳米结构表征第79-82页
        3.3.6 器件存储性能第82-83页
        3.3.7 器件存储机理拓展研究第83-87页
    3.4 本章小结第87-88页
第四章 基于共轭分子对称性构建分子间有序微观排列及其对多进制存储性能的影响研究第88-107页
    4.1 引言第88-89页
    4.2 实验部分第89-93页
        4.2.1 原料与试剂第89-90页
        4.2.2 NI_1TDPP和NI_2TDPP的合成第90-93页
        4.2.3 电存储器件的制备第93页
        4.2.4 测试方法第93页
    4.3 结果与讨论第93-106页
        4.3.1 合成及热稳定性表征第93-94页
        4.3.2 光学和电化学性质第94-95页
        4.3.3 薄膜微观纳米结构表征第95-98页
        4.3.4 薄膜全反射红外光谱表征第98-99页
        4.3.5 固态核磁表征第99-102页
        4.3.6 器件存储性能第102-103页
        4.3.7 器件存储性能重现性第103-104页
        4.3.8 器件存储机制第104-106页
    4.4 本章小结第106-107页
第五章 基于DPP共轭小分子的光电双重响应多进制存储器件制备与性能研究第107-119页
    5.1 引言第107-108页
    5.2 实验部分第108-110页
        5.2.1 原料与试剂第108-109页
        5.2.2 NI_2T_2DPP分子的合成第109-110页
        5.2.3 电存储器件的制备第110页
        5.2.4 测试方法第110页
    5.3 结果与讨论第110-118页
        5.3.1 合成及热稳定性表征第110-111页
        5.3.2 器件的光电双重响应存储性能第111-112页
        5.3.3 存储器件的光电性能稳定性和重现性第112-114页
        5.3.4 分子电学性质及光电响应存储机制第114-116页
        5.3.5 薄膜表面形貌和微观纳米结构表征第116-118页
    5.4 本章小结第118-119页
第六章 D-A型有机氮杂十环多并苯材料的设计合成及其多进制存储性能研究第119-131页
    6.1 引言第119-122页
    6.2 实验部分第122-124页
        6.2.1 原料与试剂第122页
        6.2.2 有机氮杂十环多并苯的合成第122-124页
        6.2.3 电存储器件的制备第124页
        6.2.4 测试方法第124页
    6.3 结果与讨论第124-130页
        6.3.1 光学和电化学性质第124-126页
        6.3.2 薄膜表面形貌表征第126页
        6.3.3 薄膜微观纳米结构表征第126-127页
        6.3.4 器件存储性能第127-128页
        6.3.5 器件存储机制第128-130页
    6.4 本章小结第130-131页
第七章 有机氮杂多并苯材料中受体数量和强度变化对器件存储进制和类型的调控研究第131-143页
    7.1 引言第131-133页
    7.2 实验部分第133-135页
        7.2.1 原料与试剂第133页
        7.2.2 Py-0-TQ,Py-1-TQ和Py-2-TQ的合成第133-135页
        7.2.3 电存储器件的制备第135页
        7.2.4 测试方法第135页
    7.3 结果与讨论第135-141页
        7.3.1 合成及热稳定性表征第135-136页
        7.3.2 光学和电化学性质第136-137页
        7.3.3 薄膜自组装表面形貌表征第137-138页
        7.3.4 薄膜微观纳米结构表征第138-139页
        7.3.5 器件存储性能第139-140页
        7.3.6 器件存储机制第140-141页
    7.4 本章小结第141-143页
第八章 全文总结第143-147页
    8.1 全文总结第143-145页
    8.2 存在的问题与展望第145-147页
参考文献第147-164页
攻读学位期间公开发表的论文第164-166页
致谢第166-167页

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