一款高性能开关电源芯片的修调方案分析与设计
| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第11-16页 |
| 1.1 开关电源芯片发展现状 | 第11页 |
| 1.2 电源管理芯片的发展趋势 | 第11-13页 |
| 1.3 修调技术及其发展 | 第13-14页 |
| 1.4 本论文研究内容及论文结构 | 第14-16页 |
| 第二章 修调技术简介 | 第16-24页 |
| 2.1 芯片产品主要设计流程 | 第16-18页 |
| 2.2 修调技术基本原理 | 第18-19页 |
| 2.3 常见修调技术简介 | 第19-23页 |
| 2.3.1 金属、多晶硅熔丝修调技术 | 第19-21页 |
| 2.3.2 二极管反熔丝修调技术 | 第21-22页 |
| 2.3.3 激光调阻修调技术 | 第22-23页 |
| 2.3.4 内嵌存储单元修调技术 | 第23页 |
| 2.4 本章小结 | 第23-24页 |
| 第三章 芯片结构及典型应用 | 第24-30页 |
| 3.1 芯片特点简述 | 第24页 |
| 3.2 芯片内部结构 | 第24-28页 |
| 3.3 芯片典型应用 | 第28-29页 |
| 3.4 本章小结 | 第29-30页 |
| 第四章 芯片修调参数及相关电路 | 第30-46页 |
| 4.1 基准源及其参数修调 | 第30-35页 |
| 4.1.1 基准结构及工作原理 | 第30-33页 |
| 4.1.2 基准电流修调网络 | 第33-35页 |
| 4.2 流限设定电路及其参数修调 | 第35-38页 |
| 4.2.1 流限设定电路结构及工作原理 | 第35-37页 |
| 4.2.2 流限设定参数修调网络 | 第37-38页 |
| 4.3 流限比较模块及其参数修调 | 第38-41页 |
| 4.3.1 流限比较电路结构及工作原理 | 第39-40页 |
| 4.3.2 流限比较参数修调网络 | 第40-41页 |
| 4.4 振荡器及其参数修调 | 第41-45页 |
| 4.4.1 振荡器工作原理与电路结构 | 第41-43页 |
| 4.4.2 振荡器修调网络 | 第43-45页 |
| 4.5 本章小结 | 第45-46页 |
| 第五章 金属熔丝修调方案 | 第46-52页 |
| 5.1 金属熔丝修调电路 | 第46-49页 |
| 5.1.1 驱动电路 | 第46-47页 |
| 5.1.2 修调单元 | 第47-49页 |
| 5.2 电路优点 | 第49页 |
| 5.3 模拟仿真结果 | 第49-50页 |
| 5.4 金属熔丝单元版图 | 第50-51页 |
| 5.5 本章小结 | 第51-52页 |
| 第六章 二极管反熔丝修调方案 | 第52-87页 |
| 6.1 二极管反熔丝修调方案总体思想 | 第52-54页 |
| 6.2 二极管修调模块 | 第54-56页 |
| 6.2.1 修调单元电路 | 第54-55页 |
| 6.2.2 偏置电路 | 第55-56页 |
| 6.3 预修调及电路实现 | 第56-79页 |
| 6.3.1 预修调外部控制方法 | 第57-58页 |
| 6.3.2 控制引脚UV/OV模块与预修调控制 | 第58-63页 |
| 6.3.3 修调模式切换电路 | 第63-65页 |
| 6.3.4 线电压检测电路与预修调计数时钟 | 第65-71页 |
| 6.3.5 自动重启动模块与预修调计数器 | 第71-72页 |
| 6.3.6 修调模块与预修调控制 | 第72-73页 |
| 6.3.7 流限设定电路与预修调的检测 | 第73-76页 |
| 6.3.8 预修调模式下其他模块的响应 | 第76-77页 |
| 6.3.9 预修调参数检测方法与功能仿真验证 | 第77-79页 |
| 6.4 永久性修调 | 第79-85页 |
| 6.4.1 修调过程外部控制方法 | 第80-81页 |
| 6.4.2 控制引脚UV/OV模块与永久性修调 | 第81-82页 |
| 6.4.3 修调模式切换电路与永久性修调 | 第82-83页 |
| 6.4.4 永久性修调模式下其他模块的响应状态 | 第83-84页 |
| 6.4.5 永久性修调模式的功能仿真 | 第84-85页 |
| 6.5 两种修调方案的对比 | 第85-86页 |
| 6.6 本章小结 | 第86-87页 |
| 第七章 总结 | 第87-89页 |
| 致谢 | 第89-90页 |
| 参考文献 | 第90-92页 |
| 攻硕期间取得研究成果 | 第92-93页 |
