摘要 | 第1-7页 |
Abstract | 第7-12页 |
第一章 文献综述 | 第12-32页 |
·引言 | 第12页 |
·铁电微晶玻璃的发展概况 | 第12-17页 |
·铁电微晶玻璃的定义 | 第12-13页 |
·铁电微晶玻璃的应用及优点 | 第13-14页 |
·氧化物铁电微晶玻璃 | 第14-15页 |
·非氧化物铁电微晶玻璃 | 第15-17页 |
·硫卤玻璃的微晶化研究进展 | 第17-20页 |
·微晶玻璃的制备技术 | 第17-18页 |
·激光诱导微晶玻璃加工技术 | 第18-20页 |
·基于硫化物组成的铁电晶体及其铁电微晶玻璃的研究 | 第20-24页 |
·SbSI铁电晶体 | 第20-21页 |
·SbSI铁电晶体的光电性质 | 第21-23页 |
·Sb-S-I系统微晶玻璃 | 第23-24页 |
·其他硫卤玻璃系统 | 第24页 |
·硫系玻璃的光致诱导研究 | 第24-28页 |
·硫系玻璃的光致变色性能的研究 | 第25-28页 |
·光热辐射位移测量技术 | 第28-29页 |
·硫系玻璃在在地球科学中的应用 | 第29-31页 |
·激光剥蚀电感耦合等离子体质谱(LA-ICP-MS) | 第29-30页 |
·硫系玻璃在LA-ICP-MS中的应用 | 第30-31页 |
·课题的提出及研究的内容 | 第31-32页 |
第二章 实验方法 | 第32-39页 |
·硫卤玻璃的制备 | 第32-34页 |
·玻璃安瓿处理 | 第32页 |
·原料提纯 | 第32页 |
·配料 | 第32-33页 |
·真空封接 | 第33页 |
·熔制和退火 | 第33-34页 |
·样品切割 | 第34页 |
·LA-ICP-MS激光剥蚀电感耦合等离子体质谱标准物的制备 | 第34-35页 |
·基本性能测试 | 第35-39页 |
·差示扫描热量分析(DSC)和差热分析(DTA) | 第35-36页 |
·高压电场真空热处理设备 | 第36页 |
·X射线衍射物相分析(XRD) | 第36页 |
·可见-红外透过光谱 | 第36页 |
·带有EBSD的扫描电镜(SEM) | 第36页 |
·拉曼光谱 | 第36-37页 |
·光致诱导透过率变化的测试 | 第37页 |
·热传导系数的测试 | 第37页 |
·LA-ICP-MS激光剥蚀电感耦合等离子体质谱 | 第37-39页 |
第三章 新型铁电微晶玻璃的制备及其结构表征 | 第39-69页 |
·Sb-S-I系统玻璃 | 第39-46页 |
·玻璃形成 | 第39-40页 |
·差热分析(DTA) | 第40-43页 |
·X射线衍射图谱(XRD) | 第43-45页 |
·扫描电子显微镜(SEM) | 第45-46页 |
·GeS_2-SbSI系统玻璃 | 第46-55页 |
·样品的制备 | 第46-47页 |
·性能测试 | 第47-53页 |
·光学显微镜与扫描电子显微镜 | 第53-55页 |
·As_2S_3-SbSI系统玻璃 | 第55-62页 |
·样品的制备 | 第55-56页 |
·样品性能测试 | 第56-61页 |
·扫描电子显微镜 | 第61-62页 |
·激光诱导玻璃析晶的研究 | 第62-67页 |
·激光诱导析晶的设备 | 第62-64页 |
·扫描电子显微镜 | 第64-67页 |
·电子背散射衍射分析特术伦(EBSO) | 第67页 |
·本章小结 | 第67-69页 |
第四章 铁电玻璃的光致诱导效应 | 第69-84页 |
·光致带隙变化 | 第69-75页 |
·GeS_2-SbSI玻璃系统 | 第69-73页 |
·As_2S_3-SbSI玻璃系统 | 第73-75页 |
·激光辐照对样品结构的影响 | 第75-78页 |
·GeS_2-SbSI玻璃系统 | 第75-76页 |
·As_2S_3-SbSI玻璃系统 | 第76-78页 |
·热透镜和热反射镜 | 第78-83页 |
·热透镜 | 第81-82页 |
·热反射镜 | 第82-83页 |
·本章总结 | 第83-84页 |
第五章 微量元素掺杂硫系玻璃在矿物元素分析中的应用 | 第84-91页 |
·样品的均一性测试 | 第84-89页 |
·实验设计 | 第84-85页 |
·结果和分析 | 第85-89页 |
·IMER-1样品有效性的比较和分析 | 第89-90页 |
·结果和展望 | 第90-91页 |
全文总结 | 第91-92页 |
参考文献 | 第92-102页 |
致谢 | 第102-103页 |
攻读博士学位期间发表的论文和申请的专利 | 第103页 |