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基于W18O49的表面增强拉曼散射性能与机理研究

摘要第6-8页
ABSTRACT第8-9页
第一章 绪论第12-22页
    1.1 表面增强拉曼散射机理第12-18页
        1.1.1 拉曼散射第12-15页
        1.1.2 表面增强拉曼散射第15页
        1.1.3 SERS增强机理第15-18页
    1.2 表面增强拉曼散射技术的发展及应用第18-19页
        1.2.1 表面增强拉曼散射基底材料的发展第18页
        1.2.2 表面增强拉曼散射技术的应用第18-19页
    1.3 氧化钨的国内外研究现状第19-20页
    1.4 本文主要研究内容第20-22页
第二章 计算原理及实验方法第22-28页
    2.1 第一性原理计算方法第22-24页
    2.2 样品制备及表征方法第24-26页
        2.2.1 样品制备方法第24-25页
        2.2.2 样品表征方法第25-26页
    2.3 SERS增强因子计算第26-28页
第三章 载流子掺杂对氧化钨电子结构影响的理论研究第28-35页
    3.1 引言第28页
    3.2 计算细节第28-29页
    3.3 计算结果及讨论第29-34页
        3.3.1 载流子掺杂对六方WO_3电子结构的影响第29-33页
        3.3.2 载流子掺杂对W_(18)O_(49)电子结构的影响第33-34页
    3.4 本章小结第34-35页
第四章 氧空位对W_(18)O_(49)基底SERS性能影响的实验研究第35-42页
    4.1 引言第35页
    4.2 W_(18)O_(49)样品表征及SERS性能分析第35-40页
    4.3 本章小结第40-42页
第五章 表面电子掺杂对W_(18)O_(49)基底SERS性能影响的研究第42-52页
    5.1 引言第42页
    5.2 实验结果与分析第42-50页
        5.2.1 贵金属负载的W_(18)O_(49)样品表征及SERS性能分析第42-47页
        5.2.2 供电子基团有机物修饰的W_(18)O_(49)样品表征及SERS性能分析第47-50页
    5.3 本章小结第50-52页
第六章 总结与展望第52-54页
参考文献第54-60页
致谢第60-61页
作者简历第61页

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