| 摘要 | 第8-10页 |
| ABSTRACT | 第10-11页 |
| 第一章 绪论 | 第12-28页 |
| 1.1 纳米材料的发展及其磁性研究 | 第12-16页 |
| 1.1.1 纳米材料的发展概况 | 第12-13页 |
| 1.1.2 纳米材料的磁性研究 | 第13-16页 |
| 1.2 钙钛矿材料磁电耦合及补偿温度的研究 | 第16-19页 |
| 1.2.1 钙钛矿材料的磁电耦合研究 | 第16-19页 |
| 1.2.2 钙钛矿材料的补偿温度的研究 | 第19页 |
| 1.3 石榴石结构材料磁电耦合的研究 | 第19-21页 |
| 1.4 阻变效应和电控磁现象的共存 | 第21-26页 |
| 1.4.1 阻变效应机理简介 | 第21-24页 |
| 1.4.2 阻变效应和磁性的耦合 | 第24-26页 |
| 1.5 课题的选取及研究意义 | 第26-28页 |
| 第二章 实验方法 | 第28-33页 |
| 2.1 粉体和薄膜样品的制备 | 第28-30页 |
| 2.1.1 固相反应法 | 第28-29页 |
| 2.1.2 溶胶凝胶法 | 第29页 |
| 2.1.3 磁控溅射镀膜法 | 第29-30页 |
| 2.2 粉体和薄膜样品结构表征技术 | 第30-31页 |
| 2.2.1 X射线衍射(XRD) | 第30-31页 |
| 2.2.2 透射电子显微镜(TEM) | 第31页 |
| 2.3 样品磁性和阻变性能测试 | 第31-33页 |
| 2.3.1 磁性测量-多功能样品振动磁强计VersaLab | 第31-32页 |
| 2.3.2 阻变性能测量-RRAM测量系统 | 第32-33页 |
| 第三章 纳米GdFeO_3多晶的磁性 | 第33-50页 |
| 3.1 样品制备与实验方法 | 第33-34页 |
| 3.2 实验结果和讨论 | 第34-49页 |
| 3.2.1 GdFeO_3多晶样品的结构分析 | 第34-35页 |
| 3.2.2 GdFeO_3多晶样品的磁性 | 第35-40页 |
| 3.2.3 Gd_(1-x)Sm_xFeO_3(x=0.1,0.3,0.5)多晶样品的结构分析 | 第40页 |
| 3.2.4 Gd_(1-x)Sm_xFeO_3(x=0.1,0.3,0.5)多晶样品的磁性 | 第40-43页 |
| 3.2.5 电场对Gd_(1-x)Sm_xFeO_3(x=0.1,0.3,0.5)多晶样品的磁性的调控 | 第43-49页 |
| 3.3 本章小结 | 第49-50页 |
| 第四章 电场调控Gd_(3-x)Y_xFe_5O_(12)(x=0,0.3,0.9,1.5)多晶材料的磁性 | 第50-67页 |
| 4.1 样品制备与实验方法 | 第50-51页 |
| 4.2 实验结果和讨论 | 第51-65页 |
| 4.2.1 Gd_(3-x)Y_xFe_5O_(12)(x=0,0.3,0.9,1.5)多晶样品的结构分析 | 第51-52页 |
| 4.2.2 Gd_(3-x)Y_xFe_5O_(12)(x=0,0.3,0.9,1.5)多晶样品的磁性 | 第52-54页 |
| 4.2.3 电场对Gd_(3-x)Y_xFe_5O_(12)(x=0,0.3,0.9)多晶样品的磁性的调控 | 第54-65页 |
| 4.3 本章小结 | 第65-67页 |
| 第五章 Ag/a-InGaZnO_4/Pt器件阻变特性与电控磁现象研究 | 第67-79页 |
| 5.1 样品制备与实验方法 | 第67-68页 |
| 5.2 实验结果和讨论 | 第68-78页 |
| 5.2.1 a-InGaZnO_4薄膜的结构分析 | 第68-70页 |
| 5.2.2 a-InGaZnO_4室温铁磁性的研究 | 第70-71页 |
| 5.2.3 a-InGaZnO_4薄膜阻变特性的研究 | 第71-75页 |
| 5.2.4 Ag/a-InGaZnO_4/Pt器件中电阻与磁性共调控的研究 | 第75-78页 |
| 5.3 本章小结 | 第78-79页 |
| 第六章 总结与展望 | 第79-81页 |
| 6.1 总结 | 第79页 |
| 6.2 展望 | 第79-81页 |
| 参考文献 | 第81-91页 |
| 致谢 | 第91-92页 |
| 学位论文评阅及答辩情况表 | 第92页 |
