| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 第一章 绪论 | 第8-12页 |
| 1.1 引言 | 第8-9页 |
| 1.2 国内外发展现状及研究 | 第9-11页 |
| 1.3 论文主要研究内容 | 第11-12页 |
| 第二章 控制单元的硬件电路设计 | 第12-38页 |
| 2.1 控制单元的总体设计 | 第12-13页 |
| 2.2 控制单元的各部分电路设计 | 第13-36页 |
| 2.2.1 电源电路 | 第13-18页 |
| 2.2.2 基准电压电路 | 第18-19页 |
| 2.2.3 采样电路 | 第19-23页 |
| 2.2.4 接通电流脱扣和高设定值瞬动短路保护电路 | 第23-28页 |
| 2.2.5 脱扣电路 | 第28-30页 |
| 2.2.6 区域选择性连锁（ZSI）电路 | 第30页 |
| 2.2.7 通信电路 | 第30-31页 |
| 2.2.8 DSP外围电路（RTC，EEPROM，WTD） | 第31-32页 |
| 2.2.9 人机交互模块电路 | 第32-36页 |
| 2.3 本章小结 | 第36-38页 |
| 第三章 控制单元的电磁兼容设计 | 第38-46页 |
| 3.1 电磁兼容简介 | 第38-40页 |
| 3.2 万能式断路器的主要干扰 | 第40-41页 |
| 3.2.1 外部干扰 | 第40页 |
| 3.2.2 内部干扰 | 第40-41页 |
| 3.3 控制单元的硬件电路抗干扰的措施 | 第41-44页 |
| 3.3.1 合理的电子元器件选型 | 第41-42页 |
| 3.3.2 电路设计中采用的抗干扰措施 | 第42-44页 |
| 3.3.3 印制电路板的抗干扰设计 | 第44页 |
| 3.4 本章小结 | 第44-46页 |
| 第四章 控制单元样机测试 | 第46-70页 |
| 4.1 硬件电路测试 | 第46-59页 |
| 4.1.1 电源电路测试 | 第46-49页 |
| 4.1.2 基准电压电路测试 | 第49-50页 |
| 4.1.3 电流采样电路测试 | 第50-55页 |
| 4.1.4 电压采样电路测试 | 第55-56页 |
| 4.1.5 频率采样电路测试 | 第56页 |
| 4.1.6 接通电流脱扣和高设定值瞬动短路保护电路的测试 | 第56-57页 |
| 4.1.7 元器件温升测试 | 第57-59页 |
| 4.2 控制单元测量和保护功能测试 | 第59-65页 |
| 4.2.1 电流测量精度测试 | 第59-60页 |
| 4.2.2 电压测量精度测试 | 第60-61页 |
| 4.2.3 过载长延时保护测试 | 第61-63页 |
| 4.2.4 短路短延时保护测试 | 第63-64页 |
| 4.2.5 短路瞬时保护测试 | 第64-65页 |
| 4.3 环境测试 | 第65-67页 |
| 4.3.1 湿热试验 | 第65-66页 |
| 4.3.2 干热试验 | 第66-67页 |
| 4.4 控制单元的电磁兼容性能测试 | 第67页 |
| 4.5 本章小结 | 第67-70页 |
| 第五章 结论 | 第70-72页 |
| 参考文献 | 第72-76页 |
| 致谢 | 第76页 |
