| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第10-13页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第10-11页 |
| 1.2 国内外发展动态 | 第11-12页 |
| 1.3 本文的主要工作和内容安排 | 第12-13页 |
| 第二章 Ka频段连续横向枝节天线的设计 | 第13-35页 |
| 2.1 概述 | 第13页 |
| 2.2 天线的基本结构 | 第13-14页 |
| 2.3 天线辐射口面的设计 | 第14-17页 |
| 2.3.1 单枝节辐射单元与多枝节辐射单元 | 第14-15页 |
| 2.3.2 天线阵列的布局 | 第15-17页 |
| 2.4 天线馈电网络的设计 | 第17-22页 |
| 2.4.1 波导TEM波激励器的设计 | 第17-19页 |
| 2.4.2 Ka频段TEM波激励器的仿真 | 第19-21页 |
| 2.4.3 馈电布局 | 第21-22页 |
| 2.5 Ka频段圆极化器的设计 | 第22-27页 |
| 2.5.1 蜿蜒线圆极化器的工作原理 | 第23-24页 |
| 2.5.2 Ka频段蜿蜒线圆极化器的仿真 | 第24-27页 |
| 2.6 连续横向枝节天线的扫描 | 第27-28页 |
| 2.7 Ka频段连续横向枝节天线的整体仿真与测试结果 | 第28-33页 |
| 2.7.1 天线整体仿真模型 | 第28-29页 |
| 2.7.2 天线的仿真结果与测试结果 | 第29-33页 |
| 2.7.3 实验误差的分析 | 第33页 |
| 2.8 本章小结 | 第33-35页 |
| 第三章W频段平面连续横向枝节天线的设计 | 第35-60页 |
| 3.1 概述 | 第35页 |
| 3.2 W频段基片集成波导多谐振腔法测量基片的特性 | 第35-49页 |
| 3.2.1 基片集成波导技术 | 第35-36页 |
| 3.2.2 基片集成波导多谐振腔法 | 第36-37页 |
| 3.2.3 基片介电常数的测量 | 第37-39页 |
| 3.2.4 基片损耗角正切的测量 | 第39-40页 |
| 3.2.5 介电常数和损耗角正切值测量结果 | 第40-47页 |
| 3.2.6 测量的不确定性分析 | 第47-49页 |
| 3.3 平面连续横向枝节天线的基本结构 | 第49-50页 |
| 3.4 W频段双极化平面连续横向枝节天线辐射口面的设计 | 第50页 |
| 3.5 W频段双极化平面连续横向枝节天线馈电网络的设计 | 第50-55页 |
| 3.5.1 基片集成波导TEM波激励器的设计 | 第50-52页 |
| 3.5.2 波导到基片集成波导功分器的过渡 | 第52-53页 |
| 3.5.3 馈电网络到辐射口面耦合缝隙的设计 | 第53-55页 |
| 3.6 天线双极化的实现 | 第55页 |
| 3.7 天线仿真及测试结果 | 第55-58页 |
| 3.8 本章小结 | 第58-60页 |
| 第四章 结论 | 第60-62页 |
| 致谢 | 第62-63页 |
| 参考文献 | 第63-67页 |
| 攻读硕士期间取得的研究成果 | 第67-68页 |
