| 摘要 | 第6-8页 |
| ABSTRACT | 第8-10页 |
| 第一章 绪论 | 第14-31页 |
| 1.1 研究背景与意义 | 第14-16页 |
| 1.2 电子系统测试性设计综述 | 第16-19页 |
| 1.2.1 测试性设计的发展历程 | 第16-17页 |
| 1.2.2 测试性设计的研究现状 | 第17-19页 |
| 1.3 测试方案优化设计的研究内容及关键技术的现状分析 | 第19-27页 |
| 1.3.1 测试方案优化设计的研究内容 | 第19-20页 |
| 1.3.2 模拟电路测点选择的研究现状 | 第20-23页 |
| 1.3.2.1 测后仿真法 | 第21-22页 |
| 1.3.2.2 测前仿真法 | 第22-23页 |
| 1.3.3 复杂电子系统测试选择的研究现状 | 第23-25页 |
| 1.3.4 测试性指标验证方案优化的研究现状 | 第25-26页 |
| 1.3.5 现有方法的不足 | 第26-27页 |
| 1.4 本文主要工作及创新点 | 第27-28页 |
| 1.5 本文结构安排 | 第28-31页 |
| 第二章 基于电压特征和模糊阈值的模拟电路测点选择 | 第31-63页 |
| 2.1 测点选择问题描述 | 第31-35页 |
| 2.1.1 故障字典法简介 | 第31页 |
| 2.1.2 模糊组划分 | 第31-33页 |
| 2.1.3 整数编码表 | 第33-34页 |
| 2.1.4 测点选择模型 | 第34-35页 |
| 2.2 典型的测点选择方法 | 第35-40页 |
| 2.2.1 贪婪算法 | 第36-38页 |
| 2.2.1.1 包含法 | 第36-37页 |
| 2.2.1.2 排除法 | 第37-38页 |
| 2.2.2 智能优化算法 | 第38-39页 |
| 2.2.3 时间复杂度分析 | 第39-40页 |
| 2.3 基于量子进化算法的模拟电路测点选择 | 第40-49页 |
| 2.3.1 量子进化算法简介 | 第40-42页 |
| 2.3.2 种群初始化 | 第42-44页 |
| 2.3.3 适应度函数 | 第44-45页 |
| 2.3.4 量子染色体更新操作 | 第45页 |
| 2.3.5 算法流程 | 第45-46页 |
| 2.3.6 电路仿真 | 第46-49页 |
| 2.4 基于贪婪随机自适应搜索算法的模拟电路测点选择 | 第49-60页 |
| 2.4.1 贪婪随机自适应搜索算法简介 | 第49-50页 |
| 2.4.2 构造可行解 | 第50-51页 |
| 2.4.3 局部搜索 | 第51-52页 |
| 2.4.4 算法流程 | 第52-53页 |
| 2.4.5 电路仿真 | 第53-60页 |
| 2.5 统计分析 | 第60-61页 |
| 2.6 本章小结 | 第61-63页 |
| 第三章 基于层次聚类和多频分析的模拟电路测点选择 | 第63-87页 |
| 3.1 层次聚类基本理论 | 第63-65页 |
| 3.2 基于层次聚类和多频分析的模拟电路测点选择方法设计 | 第65-75页 |
| 3.2.1 一个简单电路 | 第65-66页 |
| 3.2.2 基于层次聚类的模糊组划分 | 第66-68页 |
| 3.2.3 改进的熵指数优化算法 | 第68-70页 |
| 3.2.4 多频分析 | 第70-74页 |
| 3.2.5 算法流程 | 第74-75页 |
| 3.3 电路仿真 | 第75-85页 |
| 3.4 本章小结 | 第85-87页 |
| 第四章 基于多信号流图模型的复杂电子系统测试选择 | 第87-115页 |
| 4.1 多信号流图模型 | 第87-92页 |
| 4.1.1 模型概述 | 第87-88页 |
| 4.1.2 建模实例 | 第88-89页 |
| 4.1.3 故障-测试相关性矩阵 | 第89-91页 |
| 4.1.4 复杂电子系统多信号流图建模的优势 | 第91-92页 |
| 4.2 测试可靠情形下的测试选择 | 第92-103页 |
| 4.2.1 测试选择问题描述 | 第92-94页 |
| 4.2.2 模拟电路测点选择与系统级测试选择的区别 | 第94-95页 |
| 4.2.3 模型求解算法 | 第95-98页 |
| 4.2.4 算法验证与比较 | 第98-103页 |
| 4.3 测试不可靠情形下的测试选择 | 第103-114页 |
| 4.3.1 漏检与虚警 | 第103-105页 |
| 4.3.2 测试优化选择问题描述 | 第105-107页 |
| 4.3.3 模型求解算法 | 第107-111页 |
| 4.3.4 算法与模型验证 | 第111-114页 |
| 4.4 本章小结 | 第114-115页 |
| 第五章 电子系统测试性指标的验证方案优化 | 第115-124页 |
| 5.1 故障检测率的经典验证方案 | 第115-116页 |
| 5.2 研制阶段试验信息的等效分析 | 第116-119页 |
| 5.2.1 研制阶段试验数据分析 | 第116-117页 |
| 5.2.2 研制阶段故障检测率增长的贝叶斯模型 | 第117-118页 |
| 5.2.3 确定先验分布超参数 | 第118-119页 |
| 5.3 确定故障检测率的验证方案 | 第119-120页 |
| 5.3.1 故障检测率的先验分布近似 | 第119页 |
| 5.3.2 故障检测率的贝叶斯验证方案 | 第119-120页 |
| 5.3.3 贝叶斯方案与经典方案的比较 | 第120页 |
| 5.4 实例应用 | 第120-123页 |
| 5.5 本章小结 | 第123-124页 |
| 第六章 总结与展望 | 第124-126页 |
| 6.1 论文工作总结 | 第124-125页 |
| 6.2 研究展望 | 第125-126页 |
| 致谢 | 第126-127页 |
| 参考文献 | 第127-138页 |
| 攻读博士学位期间取得的成果 | 第138-139页 |
