开关电源关键器件失效研究及探测
| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6页 |
| 第一章 绪论 | 第9-14页 |
| 1.1 研究工作的背景与意义 | 第9-10页 |
| 1.2 开关电源故障检测的国内外研究现状 | 第10-11页 |
| 1.3 本文的主要研究内容与方案 | 第11-13页 |
| 1.3.1 研究内容 | 第11页 |
| 1.3.2 研究方案 | 第11-12页 |
| 1.3.3 本文的创新之处 | 第12-13页 |
| 1.4 本文的结构安排 | 第13-14页 |
| 第二章 开关电源关键元器件的失效机理 | 第14-24页 |
| 2.1 电解质滤波电容的失效模型及机理 | 第14-19页 |
| 2.1.1 等效电路 | 第14-16页 |
| 2.1.2 退化原因 | 第16页 |
| 2.1.3 退化过程在参数上的表现 | 第16-18页 |
| 2.1.4 关键参数的选取及分析 | 第18-19页 |
| 2.2 光耦合器的失效模型及机理 | 第19-23页 |
| 2.2.1 光耦合器的结构及特点 | 第19-21页 |
| 2.2.2 光耦合器退化机理 | 第21-23页 |
| 2.2.2.1 光耦合器退化机理 | 第21页 |
| 2.2.2.2 光耦合器CTR的表征 | 第21-23页 |
| 2.3 本章小结 | 第23-24页 |
| 第三章 元器件退化的关键监测信号 | 第24-31页 |
| 3.1 电解质滤波电容退化关键信号 | 第24-27页 |
| 3.1.1 时域分析 | 第24-25页 |
| 3.1.2 频域分析 | 第25-26页 |
| 3.1.3 利用纹波电压的近似计算 | 第26-27页 |
| 3.2 光耦合器退化关键信号确定 | 第27-30页 |
| 3.3 本章小结 | 第30-31页 |
| 第四章 关键元器件的加速实验 | 第31-37页 |
| 4.1 电解质滤波电容的退化实验 | 第31-34页 |
| 4.2 光耦合器的退化实验 | 第34-36页 |
| 4.3 本章小结 | 第36-37页 |
| 第五章 监测电路设计与仿真 | 第37-53页 |
| 5.1 电解质电容检测电路设计及仿真 | 第38-45页 |
| 5.1.1 偏置放大电路 | 第39-41页 |
| 5.1.2 滤波电路 | 第41-44页 |
| 5.1.3 整体电路 | 第44-45页 |
| 5.2 光耦合器检测电路设计及仿真 | 第45-50页 |
| 5.2.1 震荡引入电路 | 第46-47页 |
| 5.2.2 整形电路 | 第47-48页 |
| 5.2.3 放大电路 | 第48-49页 |
| 5.2.4 方波产生电路 | 第49-50页 |
| 5.2.5 整体电路 | 第50页 |
| 5.3 ARM数据处理流程 | 第50-52页 |
| 5.4 本章小结 | 第52-53页 |
| 第六章 监测设备测试 | 第53-68页 |
| 6.1 PCB电路测试 | 第54-61页 |
| 6.1.1 文波电压采集电路测试 | 第54-57页 |
| 6.1.2 震荡信号采集电路测试 | 第57-61页 |
| 6.2 故障监测设备测试 | 第61-67页 |
| 6.2.1 电解电容故障监测测试 | 第61-64页 |
| 6.2.2 光耦合器故障监测测试 | 第64-67页 |
| 6.3 本章小结 | 第67-68页 |
| 第七章 总结与展望 | 第68-70页 |
| 7.1 全文总结 | 第68页 |
| 7.2 后续工作展望 | 第68-70页 |
| 致谢 | 第70-71页 |
| 参考文献 | 第71-75页 |
| 攻读硕士学位期间取得的成果 | 第75-76页 |
