| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-20页 |
| ·电介质材料 | 第9-14页 |
| ·电介质的极化和损耗机制 | 第9-10页 |
| ·高介电材料 | 第10-12页 |
| ·高介电材料的应用背景及现状 | 第12-14页 |
| ·高介电CaCu_3Ti_4O_(12)(CCTO)材料 | 第14-18页 |
| ·CCTO 的晶体结构 | 第15页 |
| ·CCTO 的高介电机理 | 第15-17页 |
| ·CCTO 材料的研究进展 | 第17-18页 |
| ·本文的研究思路及意义 | 第18-20页 |
| 第二章 CCTO 的制备及烧成工艺 | 第20-27页 |
| ·CCTO 的固相反应法 | 第20-22页 |
| ·CCTO 的预烧工艺 | 第22页 |
| ·CCTO 的烧结工艺 | 第22-24页 |
| ·CCTO 的分析表征与介电性能测试 | 第24-26页 |
| ·本章小结 | 第26-27页 |
| 第三章 非化学计量比对CCTO 介电性能的影响 | 第27-48页 |
| ·Ca 偏离化学计量比对CCTO 介电性能的影响 | 第27-29页 |
| ·实验 | 第27-28页 |
| ·结果与分析 | 第28-29页 |
| ·Cu 偏离化学计量比对CCTO 介电性能的影响 | 第29-32页 |
| ·实验 | 第29-30页 |
| ·结果与分析 | 第30-32页 |
| ·Ti 偏离化学计量比对CCTO 介电性能的影响 | 第32-33页 |
| ·实验 | 第32页 |
| ·结果与分析 | 第32-33页 |
| ·Ca 和Ti 偏离化学计量比对CCTO 介电性能的影响 | 第33-42页 |
| ·试验 | 第33-34页 |
| ·XRD 粉末衍射分析与SEM 形貌分析 | 第34-37页 |
| ·介电性能测试 | 第37-40页 |
| ·阻抗谱测试及等效电路 | 第40-42页 |
| ·Ca 和Cu 偏离化学计量比对CCTO 介电性能的影响 | 第42-45页 |
| ·试验 | 第42-43页 |
| ·结果与分析 | 第43-45页 |
| ·Cu 和Ti 偏离化学计量比对CCTO 介电性能的影响 | 第45-47页 |
| ·试验 | 第45页 |
| ·结果与分析 | 第45-47页 |
| ·本章小结 | 第47-48页 |
| 第四章 CCTO 应用于LTCC 研究 | 第48-60页 |
| ·CCTO 掺玻璃的研究 | 第48-53页 |
| ·实验 | 第49页 |
| ·XRD 粉末衍射分析与SEM 形貌分析 | 第49-51页 |
| ·介电性能测试 | 第51-53页 |
| ·CCTO 掺SiO_2 的研究 | 第53-59页 |
| ·实验 | 第53页 |
| ·介电性能测试 | 第53-55页 |
| ·负电容效应及阻抗谱分析 | 第55-59页 |
| ·本章小结 | 第59-60页 |
| 第五章 结论 | 第60-61页 |
| 致谢 | 第61-62页 |
| 参考文献 | 第62-66页 |
| 攻硕期间取得的研究成果 | 第66-67页 |
