| 摘要 | 第5-7页 |
| Abstract | 第7-8页 |
| 符号说明 | 第9-10页 |
| 第一章 前言 | 第10-20页 |
| 1.1 关于分子自组装 | 第10-11页 |
| 1.2 分子自组装研究的发展过程 | 第11页 |
| 1.3 分子自组装的研究现状 | 第11-13页 |
| 1.4 SAMs的应用 | 第13-14页 |
| 1.5 SAMs的应用前景 | 第14页 |
| 1.6 本论文的总体设想、研究目的和思路 | 第14-16页 |
| 参考文献 | 第16-20页 |
| 第二章 实验 | 第20-23页 |
| 2.1 试剂 | 第20页 |
| 2.2 铜电极的制备 | 第20页 |
| 2.3 烷基硫醇SAMs的制备 | 第20页 |
| 2.4 电化学测量 | 第20-21页 |
| 参考文献 | 第21-23页 |
| 第三章 烷基硫醇SAMs修饰的铜电极的FTIR表征 | 第23-26页 |
| 参考文献 | 第24-26页 |
| 第四章 稳态极化和循环伏安法研究烷基硫醇SAMs的缓蚀性能 | 第26-39页 |
| 4.1 稳态极化曲线 | 第26-32页 |
| 4.2 循环伏安测试 | 第32-36页 |
| 参考文献 | 第36-39页 |
| 第五章 交流阻抗研究测定烷基硫醇SAMs修饰的铜电极的腐蚀行为 | 第39-56页 |
| 5.1 C6SH、C12SH、C18SH SAMs修饰的铜电极在不同腐蚀介质中的EIS | 第39-44页 |
| 5.2 SAMs覆盖的金属电极的等效电路 | 第44-48页 |
| 5.3 影响自组装膜质量及其性能的因素 | 第48-52页 |
| 5.3.1 组装时间的影响 | 第48-50页 |
| 5.3.2 SAMS的耐蚀性能随腐蚀时间的变化 | 第50-52页 |
| 5.3.3 铜基底处理的影响 | 第52页 |
| 参考文献 | 第52-56页 |
| 第六章 结论 | 第56-57页 |
| 致谢 | 第57-58页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文 | 第58-59页 |
| 学位论文评阅及答辩情况表 | 第59页 |
