MOV型SPD测试及老化分析
| 摘要 | 第1-7页 |
| ABSTRACT | 第7-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-19页 |
| ·研究目的和意义 | 第8-10页 |
| ·概况 | 第8页 |
| ·MOV型SPD测试 | 第8-10页 |
| ·老化劣化分析 | 第10页 |
| ·国内外研究进展 | 第10-12页 |
| ·成果与创新 | 第12-13页 |
| ·本文框架与结构 | 第13-15页 |
| 参考文献 | 第15-19页 |
| 第二章 氧化锌压敏电阻特性和起电机制分析 | 第19-33页 |
| ·氧化锌压敏电阻电气参数特性 | 第19-22页 |
| ·MOV电阻非线性Ⅴ-Ⅰ特性 | 第19-20页 |
| ·压敏电阻残压特性 | 第20-21页 |
| ·压敏电阻泄露电流 | 第21页 |
| ·限制电压比(V_p/V_1) | 第21页 |
| ·通流容量 | 第21-22页 |
| ·氧化锌压敏电阻的基本晶粒结构 | 第22-23页 |
| ·晶界间的双肖恩特基势垒结构 | 第23-28页 |
| ·双肖恩特基势垒的作用机制 | 第23-25页 |
| ·双肖恩特基势垒结构的影响因素 | 第25-28页 |
| ·MOV瓷片导电电流分布分析 | 第28-29页 |
| ·本章小结 | 第29-31页 |
| 参考文献 | 第31-33页 |
| 第三章 MOV型SPD测试方法 | 第33-48页 |
| ·打开模块测试方法 | 第33-35页 |
| ·MOV型SPD模块结构 | 第33-34页 |
| ·内部检测项目 | 第34-35页 |
| ·MOV老化劣化实验方法 | 第35-43页 |
| ·8/20μs波形冲击实验 | 第36-38页 |
| ·热稳定老化试验 | 第38-40页 |
| ·受潮实验 | 第40-43页 |
| ·实验参数记录 | 第43-45页 |
| ·压敏电压U_(lmA) | 第43-44页 |
| ·漏电流I_(leakage) | 第44页 |
| ·电容量 | 第44-45页 |
| ·本章小结 | 第45-47页 |
| 参考文献 | 第47-48页 |
| 第四章 实验结果与分析 | 第48-66页 |
| ·引言 | 第48页 |
| ·MOV电容量的影响因素 | 第48-51页 |
| ·老化劣化实验 | 第51-61页 |
| ·多次I_n标称20kA冲击 | 第51-57页 |
| ·I_(max)40kA大电流冲击 | 第57-59页 |
| ·热稳定实验 | 第59-60页 |
| ·受潮实验 | 第60-61页 |
| ·老化分析 | 第61-62页 |
| ·本章小结 | 第62-64页 |
| 参考文献 | 第64-66页 |
| 第五章 总结与展望 | 第66-68页 |
| 致谢 | 第68-69页 |
| 作者简介 | 第69页 |
