摘要 | 第4-5页 |
ABSTRACT | 第5-6页 |
第一章 序言 | 第10-14页 |
1.1 研究背景 | 第10-11页 |
1.2 研究内容 | 第11页 |
1.3 硕士期间的工作 | 第11-12页 |
1.4 本文结构 | 第12-14页 |
第二章 TD-LTE基站自动测试系统相关技术概述 | 第14-25页 |
2.1 LTE技术和TD-LTE基站测试 | 第14-16页 |
2.1.1 LTE发展历程和TD-LTE技术特点 | 第14页 |
2.1.2 TD-LTE基站技术及基站测试 | 第14-16页 |
2.2 TD-LTE基站自动测试系统技术难点与解决方案 | 第16-18页 |
2.2.1 TD-LTE基站自动测试需求 | 第16-17页 |
2.2.2 TD-LTE基站自动测试系统实现方案 | 第17-18页 |
2.3 TD-LTE基站自动测试技术 | 第18-23页 |
2.3.1 仪表远程控制技术 | 第18-20页 |
2.3.2 射频箱自动控制技术 | 第20-23页 |
2.4 开发工具 | 第23-24页 |
2.5 小结 | 第24-25页 |
第三章 系统需求分析 | 第25-43页 |
3.1 需求概述 | 第25-26页 |
3.1.1 TD-LTE基站测试特点 | 第25页 |
3.1.2 TD-LTE基站测试过程概述 | 第25-26页 |
3.2 TD-LTE基站测试流程 | 第26-31页 |
3.2.1 基站发射机测试流程 | 第26-29页 |
3.2.2 基站接收机测试流程 | 第29-31页 |
3.2.3 发射模式验证 | 第31页 |
3.3 TD-LTE基站测试方法 | 第31-36页 |
3.3.1 最大发射功率 | 第31-32页 |
3.3.2 总功率动态范围 | 第32页 |
3.3.3 频率误差 | 第32-33页 |
3.3.4 EVM | 第33页 |
3.3.5 发射机端口间时间对齐 | 第33页 |
3.3.6 下行RS功率 | 第33-34页 |
3.3.7 占用带宽 | 第34页 |
3.3.8 邻道泄漏功率比(ACLR) | 第34页 |
3.3.9 频谱发射模板 | 第34页 |
3.3.10 杂散辐射 | 第34-35页 |
3.3.11 接收机灵敏度 | 第35页 |
3.3.12 接收机动态范围 | 第35页 |
3.3.13 邻道选择性(ACS) | 第35页 |
3.3.14 信道内选择性(ICS) | 第35-36页 |
3.3.15 接收机杂散 | 第36页 |
3.4 系统需求分析 | 第36-41页 |
3.4.1 功能结构图 | 第36-37页 |
3.4.2 功能需求 | 第37页 |
3.4.3 系统面板和设备管理需求 | 第37-38页 |
3.4.4 界面原型 | 第38-39页 |
3.4.5 运行条件和环境说明 | 第39-41页 |
3.5 小结 | 第41-43页 |
第四章 系统概要设计与详细设计 | 第43-67页 |
4.1 系统概要设计 | 第43-44页 |
4.2 系统接口和功能结构 | 第44-46页 |
4.3 系统模块概要设计 | 第46-56页 |
4.3.1 环境参数配置模块概要设计 | 第46-48页 |
4.3.2 自动测试模块概要设计 | 第48-52页 |
4.3.3 生成报告模块概要设计 | 第52-53页 |
4.3.4 设备管理模块概要设计 | 第53-56页 |
4.4 系统详细设计 | 第56-66页 |
4.4.1 仪表连通性测试子模块详细设计 | 第56-58页 |
4.4.2 模式验证子模块详细设计 | 第58页 |
4.4.3 系统激活子模块详细设计 | 第58-59页 |
4.4.4 信息汇集子模块详细设计 | 第59页 |
4.4.5 测试控制子模块详细设计 | 第59页 |
4.4.6 结果保存子模块详细设计 | 第59-60页 |
4.4.7 生成报告子模块详细设计 | 第60-62页 |
4.4.8 仪表控制模块详细设计 | 第62-63页 |
4.4.9 射频箱控制子模块详细设计 | 第63-66页 |
4.5 小结 | 第66-67页 |
第五章 系统实现与运行效果 | 第67-71页 |
5.1 主界面 | 第67页 |
5.2 模式验证 | 第67-69页 |
5.3 项目测试 | 第69-70页 |
5.4 系统运行总结 | 第70-71页 |
第六章 结束语 | 第71-72页 |
6.1 总结 | 第71页 |
6.2 问题与展望 | 第71-72页 |
参考文献 | 第72-74页 |
致谢 | 第74-75页 |
攻读学位期间发表的学术论文目录 | 第75页 |