基于LabVIEW的纳米材料热光电性能测试系统设计
| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 1 绪论 | 第10-16页 |
| 1.1 课题的背景及意义 | 第10-11页 |
| 1.2 课题研究现状 | 第11-14页 |
| 1.2.1 纳米材料热光电性能的研究现状 | 第11-12页 |
| 1.2.2 热光电性能测试技术的研究现状 | 第12-14页 |
| 1.3 研究内容和章节安排 | 第14-16页 |
| 2 系统方案设计 | 第16-30页 |
| 2.1 系统功能模块设计 | 第16-18页 |
| 2.1.1 系统硬件功能模块设计 | 第16-17页 |
| 2.1.2 系统软件功能模块设计 | 第17-18页 |
| 2.2 系统功能模块核心器件选型 | 第18-21页 |
| 2.2.1 传感器件 | 第18页 |
| 2.2.2 数据采集卡 | 第18-19页 |
| 2.2.3 热源发生器件 | 第19-20页 |
| 2.2.4 Keithley数字源表 | 第20-21页 |
| 2.2.5 太阳光模拟器 | 第21页 |
| 2.3 系统调理电路设计 | 第21-24页 |
| 2.3.1 信号放大电路设计 | 第21-22页 |
| 2.3.2 信号滤波电路设计 | 第22-23页 |
| 2.3.3 创建NI-DAQmx任务 | 第23-24页 |
| 2.3.4 PCI数据采集卡与外接设备的连接 | 第24页 |
| 2.4 系统软件管理界面设计 | 第24-29页 |
| 2.4.1 密码登录界面设计 | 第24-27页 |
| 2.4.2 主程序控制界面设计 | 第27-29页 |
| 2.5 本章小结 | 第29-30页 |
| 3 热电测试系统设计 | 第30-50页 |
| 3.1 热电性能测试关键技术指标 | 第30-31页 |
| 3.1.1 Seebeck系数 | 第30页 |
| 3.1.2 电导率s | 第30-31页 |
| 3.1.3 热导率k | 第31页 |
| 3.1.4 热电材料的热电优值ZT | 第31页 |
| 3.2 热电性能测试设计原理与方法 | 第31-33页 |
| 3.2.1 Seebeck系数测量 | 第31-32页 |
| 3.2.2 电阻率 ρ 的测量 | 第32-33页 |
| 3.3 热电性能测试平台设计 | 第33-34页 |
| 3.3.1 热电测试平台搭建技术路线 | 第33-34页 |
| 3.3.2 热电测试平台的搭建 | 第34页 |
| 3.4 温差环境的产生与控制 | 第34-39页 |
| 3.5 热电性能测试程序设计 | 第39-49页 |
| 3.5.1 Seebeck系数测量程序设计 | 第39-47页 |
| 3.5.2 电阻率测试程序设计 | 第47-49页 |
| 3.6 本章小结 | 第49-50页 |
| 4 光电测试系统设计 | 第50-63页 |
| 4.1 光电性能测试关键技术指标 | 第50页 |
| 4.2 热光电性能测试 | 第50-55页 |
| 4.2.1 热光电性能测试设计方法 | 第50-51页 |
| 4.2.2 热光电性能测试平台设计 | 第51-52页 |
| 4.2.3 热光电性能测试程序设计 | 第52-55页 |
| 4.3 光电性能测试 | 第55-62页 |
| 4.3.1 光电性能测试原理及方法 | 第55-57页 |
| 4.3.2 光电性能测试平台搭建 | 第57-58页 |
| 4.3.3 光电性能测试程序设计 | 第58-62页 |
| 4.4 本章小结 | 第62-63页 |
| 5 系统性能测试及分析 | 第63-69页 |
| 5.1 系统运行稳定性 | 第63页 |
| 5.2 热光电性能测试及结果分析 | 第63-68页 |
| 5.2.1 Seebeck系数测量及结果分析 | 第63-64页 |
| 5.2.2 电阻率测量及结果分析 | 第64-66页 |
| 5.2.3 热光电性能测试及结果分析 | 第66-67页 |
| 5.2.4 光电性能I-V曲线测试 | 第67-68页 |
| 5.3 本章小结 | 第68-69页 |
| 结论 | 第69-70页 |
| 参考文献 | 第70-74页 |
| 攻读硕士学位期间学术成果情况 | 第74-75页 |
| 致谢 | 第75页 |
