RFID标签天线及阵列天线互耦效应研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-22页 |
| ·研究背景 | 第9-11页 |
| ·射频识别技术 | 第9-10页 |
| ·TD-SCDMA 通信系统 | 第10-11页 |
| ·国内外研究现状 | 第11-20页 |
| ·RFID 标签天线的研究进展 | 第11-18页 |
| ·阵列天线互耦效应的研究进展 | 第18-20页 |
| ·本论文的写作安排及主要工作 | 第20-22页 |
| ·论文的写作安排 | 第20-21页 |
| ·作者所完成的主要工作 | 第21-22页 |
| 第二章 相关基础理论 | 第22-33页 |
| ·引言 | 第22页 |
| ·天线基本参数 | 第22-29页 |
| ·电路参数 | 第24-27页 |
| ·辐射参数 | 第27-29页 |
| ·天线阵中的互耦问题 | 第29-32页 |
| ·互耦的产生及抑制 | 第29-30页 |
| ·互耦的阻抗效应 | 第30-31页 |
| ·包含互耦的阵列方向图的计算 | 第31-32页 |
| ·本章小结 | 第32-33页 |
| 第三章 双频/宽带RFID 标签天线 | 第33-47页 |
| ·引言 | 第33页 |
| ·双频RFID 标签天线设计 | 第33-38页 |
| ·天线结构设计及分析 | 第34-36页 |
| ·实验结果 | 第36-38页 |
| ·宽带RFID 标签天线设计 | 第38-46页 |
| ·天线结构设计与分析 | 第39-42页 |
| ·实验结果 | 第42-46页 |
| ·本章小结 | 第46-47页 |
| 第四章 TD-LTE 阵列天线互耦效应研究 | 第47-93页 |
| ·引言 | 第47页 |
| ·TD-LTE 双极化智能天线阵的互耦效应 | 第47-92页 |
| ·天线单元结构设计与分析 | 第47-49页 |
| ·天线单元的耦合特性 | 第49-50页 |
| ·两天线单元间的耦合特性 | 第50-59页 |
| ·天线阵列的耦合特性 | 第59-66页 |
| ·实验结果与分析 | 第66-92页 |
| ·本章小结 | 第92-93页 |
| 结论 | 第93-94页 |
| 参考文献 | 第94-100页 |
| 攻读硕士学位期间取得的研究成果 | 第100-101页 |
| 致谢 | 第101-102页 |
| 附件 | 第102页 |