| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 第一章 绪论 | 第9-19页 |
| 1.1 课题研究背景 | 第9-11页 |
| 1.2 信道均衡与纠错技术的国内外研究现状 | 第11-15页 |
| 1.2.1 估计与均衡技术的国内外研究现状 | 第11-13页 |
| 1.2.2 纠错技术的国内外研究现状 | 第13-15页 |
| 1.3 论文主要工作和创新点 | 第15-17页 |
| 1.3.1 论文主要工作 | 第15-16页 |
| 1.3.2 创新点 | 第16-17页 |
| 1.4 论文组织结构与研究内容 | 第17-19页 |
| 1.4.1 论文主线 | 第17页 |
| 1.4.2 论文章节结构 | 第17-19页 |
| 第二章 OFDM系统信道估计与均衡技术研究 | 第19-43页 |
| 2.1 无线通信信道与正交频分复用系统理论 | 第19-27页 |
| 2.1.1 无线通信信道数学模型 | 第19-21页 |
| 2.1.2 正交频分复用(OFDM)技术 | 第21-25页 |
| 2.1.3 提高OFDM系统可靠性性能的有效方法 | 第25-26页 |
| 2.1.4 建立基于MATLAB平台的OFDM系统仿真模型 | 第26-27页 |
| 2.2 OFDM系统信道估计算法的研究 | 第27-39页 |
| 2.2.1 信道估计常用算法 | 第28-35页 |
| 2.2.2 改进的低复杂度的信道估计算法 | 第35-38页 |
| 2.2.3 改进的低复杂度信道估计算法仿真与分析 | 第38-39页 |
| 2.3 OFDM系统信道均衡算法的研究 | 第39-42页 |
| 2.3.1 信道均衡的常用算法 | 第40-41页 |
| 2.3.2 优化的信道均衡算法仿真与分析 | 第41-42页 |
| 2.4 本章小结 | 第42-43页 |
| 第三章 OFDM基带纠错技术研究和算法改进 | 第43-63页 |
| 3.1 OFDM基带级联纠错编译码算法研究 | 第43-47页 |
| 3.1.1 基带纠错算法及级联码 | 第43-44页 |
| 3.1.2 一种面向WMSN的串行级联译码算法改进 | 第44-47页 |
| 3.2 RS码硬判决算法分析 | 第47-55页 |
| 3.2.1 有限域理论与RS编码 | 第47-49页 |
| 3.2.2 RS译码算法分析 | 第49-55页 |
| 3.3 面向WMSN的卷积编译码算法分析 | 第55-58页 |
| 3.3.1 卷积码编码 | 第55-57页 |
| 3.3.2 卷积码译码算法分析 | 第57-58页 |
| 3.4 RS-CC级联纠错编译码算法仿真 | 第58-61页 |
| 3.5 本章小结 | 第61-63页 |
| 第四章 OFDM系统基带关键模块的RTL电路研究 | 第63-105页 |
| 4.1 OFDM基带电路设计的关键问题 | 第63-64页 |
| 4.2 改进的傅里叶变换单元设计 | 第64-72页 |
| 4.2.1 基于分裂基算法的傅里叶变换单元设计 | 第64-69页 |
| 4.2.2 优化设计的通用型分裂基蝶形运算单元 | 第69-72页 |
| 4.3 信道估计与均衡电路优化设计 | 第72-88页 |
| 4.3.1 基于量化和数据格式优化的浮点运算电路设计 | 第72-78页 |
| 4.3.2 一种改进的部分并行架构定点数乘法器 | 第78-81页 |
| 4.3.3 改进的信道估计与均衡的RTL设计 | 第81-88页 |
| 4.4 纠错编码电路优化设计 | 第88-104页 |
| 4.4.1 有限域通用运算电路设计 | 第88-92页 |
| 4.4.2 RS编译码的电路优化设计 | 第92-98页 |
| 4.4.3 卷积交织器的新型硬件实现 | 第98-104页 |
| 4.5 本章小结 | 第104-105页 |
| 第五章 OFDM关键电路功能验证、芯片设计与测试 | 第105-133页 |
| 5.1 OFDM基带系统VLSI实现的顶层设计 | 第105-106页 |
| 5.2 信道估计与均衡电路、纠错译码电路的功能验证平台设计 | 第106-113页 |
| 5.2.1 电路的FPGA验证平台 | 第107-108页 |
| 5.2.2 信道估计与均衡电路的验证结果与分析 | 第108-111页 |
| 5.2.3 信道纠错译码电路的FPGA验证结果与分析 | 第111-113页 |
| 5.3 均衡与编译码电路的VLSI实现 | 第113-119页 |
| 5.3.1 总体设计思路 | 第113-114页 |
| 5.3.2 电路综合与版图数据分析 | 第114-119页 |
| 5.4 芯片测试及分析 | 第119-131页 |
| 5.4.1 芯片测试方案 | 第119-123页 |
| 5.4.2 SPI接口功能测试 | 第123-124页 |
| 5.4.3 数字基带发射机测试 | 第124-128页 |
| 5.4.4 基带接收机测试与分析 | 第128-131页 |
| 5.5 本章小结 | 第131-133页 |
| 第六章 总结与展望 | 第133-135页 |
| 总结 | 第133-134页 |
| 展望 | 第134-135页 |
| 致谢 | 第135-137页 |
| 参考文献 | 第137-145页 |
| 在读期间所取得的科研成果 | 第145-149页 |
| 附录 | 第149-153页 |
