| 摘要 | 第4-5页 |
| abstract | 第5-6页 |
| 第一章 绪论 | 第8-22页 |
| 1.1 引言 | 第8-9页 |
| 1.2 电荷捕获型存储器 | 第9-10页 |
| 1.3 原子力显微镜 | 第10-13页 |
| 1.3.1 原子力显微镜简介 | 第10-11页 |
| 1.3.2 原子力显微镜的工作原理 | 第11-12页 |
| 1.3.3 原子力显微镜的电学应用 | 第12-13页 |
| 1.4 电场力显微镜的工作原理 | 第13-15页 |
| 1.4.1 静电场力显微镜技术（EFM）的工作原理 | 第13-14页 |
| 1.4.2 开尔文扫描探针显微镜技术（KPFM）的工作原理 | 第14-15页 |
| 1.5 电场力显微镜的应用 | 第15-20页 |
| 1.5.1 薄膜材料的电荷检测 | 第15-17页 |
| 1.5.2 新型有机器件的应用 | 第17页 |
| 1.5.3 层状材料的电势测量 | 第17-19页 |
| 1.5.4 介电常数的测量 | 第19-20页 |
| 1.6 本文的主要研究内容 | 第20-22页 |
| 第二章 哑铃状位阻型DSFXPY的电荷捕获现象研究 | 第22-32页 |
| 2.1 前言 | 第22-23页 |
| 2.2 实验部分 | 第23-25页 |
| 2.2.1 样品制备 | 第23页 |
| 2.2.2 电场力显微镜表征系统 | 第23-25页 |
| 2.3 结果与讨论 | 第25-30页 |
| 2.4 总结 | 第30-32页 |
| 第三章 PS与SFDBAO共混驻极体薄膜电荷捕获现象研究 | 第32-40页 |
| 3.1 前言 | 第32-33页 |
| 3.2 实验部分 | 第33-34页 |
| 3.2.1 样品制备 | 第33页 |
| 3.2.2 电场力显微镜表征系统 | 第33-34页 |
| 3.3 结果及讨论 | 第34-39页 |
| 3.4 总结 | 第39-40页 |
| 第四章 PS与C_(60)共混驻极体薄膜电荷擦除与扩散过程研究 | 第40-50页 |
| 4.1 前言 | 第40-41页 |
| 4.2 实验部分 | 第41页 |
| 4.2.1 样品制备 | 第41页 |
| 4.2.2 开尔文扫描探针显微镜表征系统 | 第41页 |
| 4.3 PS/Alq_3共混膜与PS/C_(60)共混膜电荷注入与保持性能对比分析 | 第41-43页 |
| 4.4 PS/C_(60)共混膜中捕获电荷扩散及擦除机制的研究 | 第43-49页 |
| 4.5 总结 | 第49-50页 |
| 第五章 总结与展望 | 第50-51页 |
| 参考文献 | 第51-56页 |
| 附录1 攻读硕士学位期间撰写的论文 | 第56-57页 |
| 附录2 攻读硕士学位期间参加的科研项目 | 第57-58页 |
| 致谢 | 第58页 |
