摘要 | 第3-5页 |
Abstract | 第5-6页 |
第一章 绪论 | 第9-21页 |
1.1 引言 | 第9-13页 |
1.1.1 金属玻璃的研究历史 | 第9-11页 |
1.1.2 金属玻璃的分类和应用 | 第11-13页 |
1.2 金属玻璃动力学研究进展 | 第13-18页 |
1.2.1 金属玻璃本质的动力学研究 | 第13-16页 |
1.2.2 金属玻璃性能上的动力学研究 | 第16-18页 |
1.3 透射电子显微分析在金属玻璃研究中的应用 | 第18-19页 |
1.4 本论文意义及研究内容 | 第19-21页 |
第二章 透射电子显微学介绍 | 第21-43页 |
2.1 透射电子显微镜基本原理 | 第22-25页 |
2.1.1 分辨率和电子的性质 | 第22-23页 |
2.1.2 散射 | 第23-24页 |
2.1.3 阿贝成像原理 | 第24-25页 |
2.2 透射电子显微镜的基本构造 | 第25-29页 |
2.2.1 电子枪 | 第26-27页 |
2.2.2 聚光镜 | 第27页 |
2.2.3 物镜和样品台 | 第27页 |
2.2.4 投影镜 | 第27-28页 |
2.2.5 记录系统 | 第28页 |
2.2.6 其他附件 | 第28-29页 |
2.2.7 其他支撑系统 | 第29页 |
2.3 透射电子显微学的应用模式 | 第29-43页 |
2.3.1 普通成像 | 第29-30页 |
2.3.2 衍射模式 | 第30-32页 |
2.3.3 衍射衬度像 | 第32-33页 |
2.3.4 会聚束衍射 | 第33-35页 |
2.3.5 HRTEM | 第35-38页 |
2.3.6 STEM | 第38-39页 |
2.3.7 谱类模式 | 第39-41页 |
2.3.8 其他模式 | 第41-43页 |
第三章 聚焦离子束技术(FIB)制备TEM样品 | 第43-59页 |
3.1 FIB简介 | 第43-48页 |
3.1.1 FIB显微镜的原理及构造 | 第44-45页 |
3.1.2 刻蚀功能 | 第45-47页 |
3.1.3 沉积功能 | 第47-48页 |
3.2 FIB在TEM样品制备中的应用 | 第48-52页 |
3.2.1 FIB在制备TEM样品方法的发展和现状 | 第48-49页 |
3.2.2 双束制备透射电镜样品 | 第49-52页 |
3.2.3 离子束注入损伤和再沉积问题 | 第52页 |
3.3 FIB制备TEM样品判断厚度的两种方法 | 第52-59页 |
3.3.1 SEM成像原理 | 第53-54页 |
3.3.2 SEM衬度判断厚度方法 | 第54-56页 |
3.3.3 通过斜面宽度判断样品厚度 | 第56-59页 |
第四章 含铝金属玻璃的抗氧化机制的原位TEM研究 | 第59-69页 |
4.1 引言 | 第59页 |
4.2 实验 | 第59-60页 |
4.3 结果与讨论 | 第60-67页 |
4.4 本章小结 | 第67-69页 |
第五章 Tg以下表面结晶行为和临界形核尺寸的研究 | 第69-79页 |
5.1 金属玻璃Tg以下表面结晶行为 | 第69-74页 |
5.1.1 引言 | 第69页 |
5.1.2 实验 | 第69-70页 |
5.1.3 结果与讨论 | 第70-73页 |
5.1.4 小结 | 第73-74页 |
5.2 低维金属玻璃临界形核尺寸的研究 | 第74-79页 |
5.2.1 引言 | 第74页 |
5.2.2 实验 | 第74-75页 |
5.2.3 结果与讨论 | 第75-78页 |
5.2.4 小结 | 第78-79页 |
第六章 总结与展望 | 第79-81页 |
参考文献 | 第81-91页 |
个人简历及发表文章目录 | 第91-93页 |
致谢 | 第93-94页 |