F3系列硬盘生产中防尘研究及实施
| 摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-19页 |
| ·课题的背景及研究意义 | 第8-9页 |
| ·课题的背景 | 第8-9页 |
| ·课题的研究意义 | 第9页 |
| ·国内外相关技术的发展状况 | 第9-13页 |
| ·无尘室技术的概述 | 第9-12页 |
| ·超声波清洗技术的概述 | 第12-13页 |
| ·新科公司 F3 系列硬盘源自尘粒的坏品状况 | 第13-17页 |
| ·尘粒及其分类 | 第13页 |
| ·尘粒的危害性 | 第13-17页 |
| ·F3 系列硬盘坏品状况 | 第17页 |
| ·课题研究的主要内容 | 第17-19页 |
| 第二章 无尘室硬盘尘粒来源分析 | 第19-31页 |
| ·无尘室系统的组成及使用中应注意的问题 | 第19-21页 |
| ·无尘室系统的组成 | 第19-21页 |
| ·无尘室使用中应注意的问题 | 第21页 |
| ·无尘室尘粒的来源 | 第21-26页 |
| ·无尘室尘粒成分分析 | 第21-24页 |
| ·人的活动对无尘室尘粒的影响 | 第24-25页 |
| ·无尘室中仪器与设备所致尘粒 | 第25-26页 |
| ·硬盘生产中防尘的基本原则及方法 | 第26-30页 |
| ·硬盘生产中防尘的基本原则 | 第26-28页 |
| ·硬盘生产中防尘的基本方法 | 第28-30页 |
| ·本章小结 | 第30-31页 |
| 第三章 无尘室操作及工艺改进 | 第31-42页 |
| ·对无尘室尘粒的进一步研究及改善措施 | 第31-34页 |
| ·无尘室尘粒的进一步实验研究 | 第31-32页 |
| ·无尘室尘粒交叉污染的实验研究 | 第32-33页 |
| ·对无尘室尘粒的改善措施 | 第33-34页 |
| ·试建模范生产线的工艺改善探索 | 第34-36页 |
| ·模范生产线简介 | 第34-35页 |
| ·使用模范生产线以后的尘粒改善效果 | 第35-36页 |
| ·尘粒其它来源及改进措施 | 第36-40页 |
| ·工艺改进实验验证 | 第40-41页 |
| ·实验设计 | 第40页 |
| ·实验结果与分析 | 第40-41页 |
| ·本章小结 | 第41-42页 |
| 第四章 硬盘零部件超声波清洗的实验研究 | 第42-60页 |
| ·超声波清洗的机理分析 | 第42-48页 |
| ·超声波清洗原理 | 第42-46页 |
| ·影响超声波清洗效果的因素 | 第46-48页 |
| ·超声波清洗的工艺及原则 | 第48-50页 |
| ·超声波清洗的工艺 | 第48-49页 |
| ·超声波清洗的原则 | 第49-50页 |
| ·超声波清洗参数初选的实验研究 | 第50-56页 |
| ·LPC 基准值建立 | 第50-51页 |
| ·实验设计 | 第51-52页 |
| ·实验过程与结果分析 | 第52-56页 |
| ·实验结论 | 第56页 |
| ·超声波清洗参数选择的正交试验 | 第56-58页 |
| ·实验设计 | 第56-57页 |
| ·实验结果与分析 | 第57-58页 |
| ·超声波清洗的实验验证 | 第58-59页 |
| ·实验设计 | 第58-59页 |
| ·实验结果与分析 | 第59页 |
| ·本章小结 | 第59-60页 |
| 第五章 硬盘生产中防尘的综合实验 | 第60-66页 |
| ·实验目的 | 第60页 |
| ·实验设计 | 第60页 |
| ·实验流程 | 第60-61页 |
| ·实验结果与分析 | 第61-65页 |
| ·本章小结 | 第65-66页 |
| 第六章 总结与展望 | 第66-68页 |
| ·总结 | 第66页 |
| ·今后工作展望 | 第66-68页 |
| 参考文献 | 第68-70页 |
| 致谢 | 第70-71页 |
| 攻读学位期间发表的论文目录 | 第71-73页 |
