12位250MSPS流水线ADC关键设计技术研究
摘要 | 第5-7页 |
ABSTRACT | 第7-8页 |
符号对照表 | 第12-13页 |
缩略语对照表 | 第13-16页 |
第一章 绪论 | 第16-20页 |
1.1 研究背景 | 第16-17页 |
1.2 国内外研究现状 | 第17-18页 |
1.3 论文的结构安排 | 第18-20页 |
第二章 流水线ADC关键设计技术研究 | 第20-44页 |
2.2 流水线ADC的校准算法 | 第21-26页 |
2.2.1 不带溢出位的校准算法原理 | 第21-25页 |
2.2.2 带溢出位的校准算法原理 | 第25-26页 |
2.3 开关电容电路的原理 | 第26-33页 |
2.3.1 开关电容电路的原理 | 第27-31页 |
2.3.2 MDAC的工作原理 | 第31-33页 |
2.4 子级量化位数的选取与摆幅缩减技术 | 第33-38页 |
2.4.1 MDAC子级量化位数的选取 | 第34-38页 |
2.4.2 摆幅缩减技术 | 第38页 |
2.5 Sub-ADC电路 | 第38-39页 |
2.6 采样时钟偏差与后台校准技术 | 第39-42页 |
2.6.1 采样失配误差分析 | 第39-40页 |
2.6.2 数字校准技术的原理 | 第40-42页 |
2.7 小结 | 第42-44页 |
第三章 12位 250MSPS流水线ADC的设计 | 第44-68页 |
3.1 系统结构 | 第44-45页 |
3.2 MDAC电路的设计 | 第45-52页 |
3.2.1 第一级 3.5 位MDAC的设计 | 第45-50页 |
3.2.2 后级 2.5 位MDAC的设计 | 第50-52页 |
3.3 运放的原理与设计 | 第52-65页 |
3.3.1 运放的结构 | 第52-56页 |
3.3.2 运放性能提高的技术 | 第56-58页 |
3.3.3 运放参数计算 | 第58-60页 |
3.3.4 运放电路设计 | 第60-62页 |
3.3.5 共模反馈电路 | 第62-63页 |
3.3.6 g_m/I_D设计方法 | 第63-65页 |
3.4 第一级的数字校准电路 | 第65-66页 |
3.5 小结 | 第66-68页 |
第四章 仿真结果与讨论 | 第68-76页 |
4.1 第一级运放的仿真结果 | 第68-70页 |
4.2 MDAC的仿真 | 第70-73页 |
4.2.1 ADC仿真方法 | 第70-71页 |
4.2.2 第一级MDAC的仿真 | 第71-73页 |
4.3 整体结构的仿真及FFT分析 | 第73-74页 |
4.3.1 整体电路的功能验证 | 第73页 |
4.3.2 整体电路的性能验证 | 第73-74页 |
4.4 小结 | 第74-76页 |
第五章 总结与展望 | 第76-78页 |
5.1 总结 | 第76-77页 |
5.2 展望 | 第77-78页 |
参考文献 | 第78-82页 |
致谢 | 第82-84页 |
作者简介 | 第84-85页 |