大面积MCP型光电倍增管测试系统的实验研究
致谢 | 第1-5页 |
摘要 | 第5-6页 |
Abstract | 第6-10页 |
1 绪论 | 第10-18页 |
·中微子实验概述 | 第10-11页 |
·光电倍增管国内外研究现状 | 第11-14页 |
·光电倍增管研究现状 | 第11-13页 |
·MCP-PMT研究现状 | 第13-14页 |
·MCP-PMT的应用 | 第14-15页 |
·本文研究的背景和意义 | 第15-16页 |
·本文的研究内容及结构设计 | 第16-18页 |
2 MCP-PMT的工作原理及特性 | 第18-36页 |
·光电倍增管的工作原理 | 第18-21页 |
·光电倍增管的特性 | 第21-30页 |
·光电倍增管的时间特性 | 第21-22页 |
·光电倍增管的线性 | 第22-23页 |
·光电阴极均匀性 | 第23-24页 |
·稳定性 | 第24-25页 |
·暗电流 | 第25-28页 |
·光电倍增管的信噪比(SN比) | 第28-30页 |
·后脉冲 | 第30页 |
·光子计数法 | 第30-33页 |
·本章小结 | 第33-36页 |
3 大面积MCP-PMT的测试系统 | 第36-52页 |
·硬件系统 | 第36-38页 |
·软件系统 | 第38-46页 |
·仪器的远程控制 | 第38-39页 |
·DAQ数据获取系统 | 第39-44页 |
·Labview数据处理系统 | 第44-46页 |
·MCP-PMT分压器研究 | 第46-48页 |
·测试系统的研制 | 第48-49页 |
·本章小结 | 第49-52页 |
4 MCP-PMT的测试 | 第52-64页 |
·单光电子谱测试 | 第52-55页 |
·光电阴极均匀性测试 | 第55-57页 |
·光电阴极量子效率测试 | 第57-60页 |
·老化寿命测试 | 第60-61页 |
·本章小结 | 第61-64页 |
5 总结与展望 | 第64-66页 |
·总结 | 第64页 |
·下一步工作设想 | 第64-66页 |
参考文献 | 第66-72页 |
附录1 小电流测试仪的测试系统程序 | 第72-73页 |
附录2 数据调用系统程序 | 第73-74页 |
作者简介及在学期间发表的学术论文与研究成果 | 第74页 |